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龙图腾网获悉同济大学申请的专利基于线结构光的轨道测量方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121363916B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511936257.2，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权基于线结构光的轨道测量方法、装置及存储介质是由姚连璧;刘昊;吴杭彬设计研发完成，并于2025-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于线结构光的轨道测量方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于线结构光的轨道测量方法、装置及存储介质，其中方法包括：步骤S1：基于深度阈值滤波，以及基于空间距离与反射强度差异的双边滤波方法进行滤波；步骤S2：将点云划分为多个断面，基于轨道高度连续性约束，并结合法向信息筛选获取各断面内的轨道候选区；步骤S3：得到各断面的轨道点云；步骤S4：基于轨道点云最少数量约束和高度连续性约束判断各断面是否为有效断面；步骤S5：进行插值修正得到各无效断面的轨道点云；步骤S6：通过将各断面的轨道点云与标准轨道模板进行配准，得到各断面的轨道横滚角和俯仰角。与现有技术相比，本发明可以保证计算效率的同时实现轨道点云的准确提取与稳定识别。

本发明授权基于线结构光的轨道测量方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于线结构光的轨道测量方法，其特征在于，包括： 步骤S1：获取结构光扫描获取的原始点云数据，并采用基于深度阈值滤波，以及基于空间距离与反射强度差异的双边滤波方法进行滤波； 步骤S2：将滤波后的所有点云按照扫描方向划分为多个断面，基于轨道高度连续性约束，并结合法向信息筛选获取各断面内的轨道候选区； 步骤S3：在各断面的轨道候选区中，统计点云的横向坐标分布并识别密度峰值，以密度峰值为中心，在第一预配置的横向距离范围内进行聚类提取，得到各断面的轨道点云； 步骤S4：若任一断面内的轨道点云的数量大于第一预配置的数量下限，且断面内轨道点云的高度最大值与相邻断面内轨道点云的高度最大值的差异，以及断面内轨道点云的高度最小值与相邻断面内轨道点云的高度最小值的差异均小于预配置的第二差异阈值，则将该断面作为有效断面，反之，则将该断面作为无效断面； 步骤S5：对所有无效断面，基于其相邻的有效断面的轨道点云进行插值修正得到各无效断面的轨道点云； 步骤S6：通过将各断面的轨道点云与标准轨道模板进行配准，得到各断面的轨道横滚角和俯仰角； 所述步骤S1包括： 步骤S1-1：获取结构光扫描获取的原始点云数据； 步骤S1-2：滤除位于第一深度阈值范围外的点云； 步骤S1-3：基于空间距离阈值根据空间距离计算各点云与其邻域内其他点云的空间距离权重，以及基于反射强度差异阈值根据反射强度差异计算各点云和其邻域内其他点云的反射强度权重； 步骤S1-4：融合空间距离权重和反射强度权重得到各点云与其邻域内其他点云的融合权重，并基于融合权重将其邻域内其他点云的位置信息叠加至各点云的位置，完成所有点云的位置更新； 步骤S1-5：判断所有更新后的点云中是否存在反射强度异常点或空间位置异常的孤立噪声点，若为是，则执行步骤S1-6，反之则执行步骤S2； 步骤S1-6：调整空间距离阈值和或反射强度差异阈值，并返回步骤S1-3。

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