中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国人民解放军91550部队王晓明获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国人民解放军91550部队申请的专利去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121430835B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202512008201.7，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法是由王晓明;杨国庆;张涛;李淳;王玉坤;艾葳;崇元;李燕设计研发完成，并于2025-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于红外辐射测量技术领域，尤其涉及一种去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法。本发明通过已经在高低温箱标定过的大口径红外光学成像系统获取标定系数，在大口径红外光学成像系统的两端分别安装贴片式温度传感器，结合红外辐射测量原理模型，可以计算温度不均匀的大口径光学成像系统引起的杂散辐射，并进行消除，从而提高的在靶场条件下红外辐射特性测量的精度。
本发明授权去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法在权利要求书中公布了：1.一种去除杂散辐射的红外辐射特性测量方法，其特征在于：具体包括如下步骤： S1：在高低温试验箱中对大口径红外光学成像系统进行标定后，在外场环境温度下，在大口径红外光学成像系统的两端分别设有温度传感器，温度传感器用于采集大口径红外光学成像系统的机械外壳的温度； S2：设所述机械外壳的温度均匀变化，将所述机械外壳沿光轴方向等分为n块微元，计算相邻微元的温差； S3：基于步骤S1获得的标定公式和步骤S2的计算结果，获得辐射温度为Ttarget的目标图像灰度； S4：基于目标图像灰度对目标的等效黑体辐射亮度进行反演，实现对去除大口径红外光学成像系统的自身热辐射的红外辐射特性测量。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国人民解放军91550部队，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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