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龙图腾网获悉武汉纺织大学;华中科技大学申请的专利一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112304924B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011175612.6，技术领域涉及：G01N21/71；该发明授权一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法是由闫久江;李祥友;李红军;汤志阳;陈伟;江维;李巧敏;陈立娟设计研发完成，并于2020-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法在说明书摘要公布了：本发明属于激光探针元素分析相关技术领域，其公开了一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法，该方法包括以下步骤：S1，利用激光探针光谱采集装置釆集等离子体光谱；S2，对所述等离子体光谱进行平均，并在所得平光谱中选择分析线及其所对应的起止波长；S3，在原始光谱中提取光谱强度、谱峰面积、谱峰半高宽、谱峰标准差、谱峰信背比、谱峰信噪比特征；S4，利用以上特征对输入特征向量进行特征扩充，得扩充后的混合光谱特征向量；S5，将扩充后所得混合光谱特征结合分类算法进行训练得基于所述混合光谱特征的分类模型；S6，将测试集的混合光谱特征输入所述分类模型，所述分类模型输岀分类结果，完成分类。本发明使以光谱强度为主的传统光谱特征向量得到了有效扩充，提高了光谱特征向量的表征能力及其分类准确率。

本发明授权一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用光谱特征扩充提高激光探针分类精度的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： S1，利用激光探针光谱采集装置釆集等离子体光谱； S2，对所述等离子体光谱进行平均，并在所得平光谱中选择分析线及其所对应的起止波长； S3，在原始光谱中提取光谱强度、谱峰面积、谱峰半高宽、谱峰标准差、 谱峰信背比和谱峰信噪比特征； 所述步骤S3具体包括以下子步骤： S31，根据S2中所得分析线，在原始光谱数据中，查询分析线的波长位置，并检索其前后相邻3个点的光谱强度，然后提取该邻域内的强度最大值作为该分析线的光谱强度，由此得光谱强度特征FSI； S32，根据S2中所得分析线及分析线所在谱峰的起止波长，提取起止波段内的光谱波长数据及光谱强度数据，再以波长为自变量，强度为因变量，对该波段谱峰进行分段三次拟合，其中起始波长到分析线波长范围内为第一段，分析线波长到终止波长范围内第二段，拟合函数分别如公式1及公式2所示，然后对以上公式分别进行积分求面积，之后将两段面积求和得全谱峰面积特征FSPA； I1W＝A1W3+B1W2+C1W+D11 I2W＝A2W3+B2W2+C2W+D22 S33，根据谱峰的几何形状求取其半高宽特征FFWHM，首先在起止波长范围内求其光谱强度的最大值IW0及最小值IW3，然后根据公式3求取IWmid；之后，令I1W和I2W分别等于IWmid，可分别求得实数根W1和W2，两个实数根的差的绝对值ΔW即为该谱峰的半高宽，如公式4所示，由此可得谱峰的半高宽特征FFWHM； 3 ΔW＝|W2-W1|4 S34，提取起止波长范围内的光谱强度数据，然后计算谱峰强度的标准差，得谱峰的标准差特征FSD； S35，提取起始波长及其前两个点的光谱强度，再提取终止波长及其后两个点的光谱强度，然后将以上6个点的光谱强度合并到一个数列，并计算该数列的均值及标准偏差，所得值即分别为该谱峰的背景及噪声；之后，利用S31所得光谱强度分别除以背景及噪声，可得光谱的信背比及信噪比特征，分别为FSBR、FSNR；S4，利用以上特征对输入特征向量进行特征扩充，得扩充后的混合光谱特征向量； S5，将扩充后所得混合光谱特征结合分类算法进行训练得基于所述混合光谱特征的分类模型； S6，将测试集的混合光谱特征输入所述分类模型，所述分类模型输岀分类结果，完成分类。

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