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龙图腾网获悉西安交通大学申请的专利一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115988724B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211527719.1，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备是由彭晶;贺玉哲;陈立;石桓通;李兴文;邓云坤;王科;赵现平设计研发完成，并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备，属于等离子体诊断技术领域，包括获取等离子体光谱数据，并确定等离子体光谱数据的波长序列和谱线强度序列。构建包含待优化等离子体参数和波长序列的展宽效应函数，根据展宽效应函数和波长序列得到谱线拟合轮廓。本申请中采用了迭代算法，以待优化等离子体参数为优化目标，根据谱线拟合轮廓和谱线强度序列执行迭代算法，最终得到优化后的等离子体参数，优化后的等离子体参数精度更高，对等离子体的诊断效果更好。

本发明授权一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种等离子体光谱数据参数优化方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取等离子体光谱数据，并确定所述等离子体光谱数据的波长序列和谱线强度序列； 所述获取等离子体光谱数据后，确定等离子体的光学厚度，根据所述等离子体的光学厚度，对所述谱线强度序列进行校正； 所述确定等离子体的光学厚度，根据所述等离子体的光学厚度，对所述谱线强度序列进行校正，包括以下步骤： 基于阿贝尔变换，对等离子体的半径进行积分，得到初始谱线强度； 基于阿贝尔逆变换，根据所述初始谱线强度，得到谱线强度分布； 根据所述谱线强度分布确定吸收系数； 基于阿贝尔变换，根据所述吸收系数确定等离子体不同位置处的光学厚度； 基于比尔-朗伯定律，根据等离子体不同位置处的光学厚度对等离子体不同位置处的谱线强度进行校正，得到等离子体不同位置处的校正后的谱线强度； 生成谱线强度序列； 构建包含待优化等离子体参数和所述波长序列的展宽效应函数； 所述待优化等离子体参数包括：离子温度、电子密度和谱线中心波长； 所述构建包含待优化等离子体参数和所述波长序列的展宽效应函数，包括： 构建所述波长序列的上采样波长序列，所述上采样波长序列以所述波长序列的最大值和最小值为边界； 根据所述上采样波长序列、所述离子温度和所述谱线中心波长构建高斯函数；所述高斯函数用于表示多普勒展宽的谱线强度； 根据所述上采样波长序列、所述电子密度和所述谱线中心波长构建洛伦兹分布函数；所述洛伦兹分布函数用于表示史塔克展宽的谱线强度； 根据所述展宽效应函数和所述波长序列得到谱线拟合轮廓； 以所述待优化等离子体参数为优化目标，根据所述谱线拟合轮廓和所述谱线强度序列执行迭代算法；输出优化后的等离子体参数。

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