北京航空航天大学白明获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116125152B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310085538.6，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统及方法是由白明;冷凝;马辽设计研发完成，并于2023-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统及方法。该设计根据调制散射的原理将调制光源照射在半导体片上，形成的等离子体散射待测电磁波，在待测频率与调制频率的差频频率下即可接收到待测电磁波信号，将光源单元排布为光源阵列，将每个光源阵列单元设置为不同的调制频率，使用高速宽带扫频接收机或并行多通道接收机接收不同差频的电磁波信号，即可快速测量待测区域内的电磁波幅度和相位分布。本发明系统构成简洁，不存在任何机械扫描装置及额外的夹具，在测量速度及准确性上具有优势，同时还避免了测试时线缆移动等对待测位置电磁波分布的影响，是一种快速、有效的测量手段。
本发明授权一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种多频并行调制散射的电磁波矢量分布测量系统，其特征在于：包括半导体片；光源阵列；光源阵列控制模块；接收天线；信号接收处理装置；上位控制模块： 所述半导体片具有光电导效应，所述半导体片受到光照射后，照射区域可形成等离子体散射待测电磁波，半导体片放置在待测电磁波的空间区域； 所述光源阵列固定在半导体片后方，光源阵列出射的结构光可覆盖半导体片，用于激发半导体片形成等离子体阵列； 所述光源阵列控制模块与光源阵列连接，用于控制每个光源单元的调制频率； 所述接收天线用于接收待测的电磁信号； 所述信号接收处理装置与接收天线连接，用于接收及处理信号； 所述上位控制模块与信号接收处理装置及光源阵列控制模块连接，用于发送指令控制光源阵列控制模块及信号接收处理装置，实现对待测电磁波空间分布的矢量信号采集。
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