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龙图腾网获悉普赛微科技(杭州)有限公司申请的专利一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117709248B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311714903.1，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法是由简红;李泽;蒋信;刘瑞盛设计研发完成，并于2023-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法，包括第一生成式AI模型根据获取的目标文档生成测试计划，将测试计划分解为若干测试子任务，智能体基于测试子任务生成测试子任务文档，整合生成的测试子任务文档生成目标测试设备的测试程序，在所述目标测试设备中运行测试程序，从而对集成电路进行测试。本发明提出的一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法，高效可靠地根据产品文档，测试文档和自动测试设备文档生成所需的测试程序，可替代或辅助测试工程师更好地完成测试工作，提升了集成电路测试方案开发和调试优化的效率，加快了芯片产品的开发周期。

本发明授权一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于生成式AI的集成电路自动测试方法，其特征在于，包括： S1，第一生成式AI模型根据获取的目标文档生成测试计划； S2,将测试计划分解为若干测试子任务； S3，智能体基于测试子任务生成测试子任务文档，其中，所述智能体为若干生成式AI模型和若干工具构成的链状融合体； S4，整合生成的测试子任务文档生成目标测试设备的测试程序； S5，在所述目标测试设备中运行测试程序，从而对集成电路进行测试； 所述将测试计划分解为若干测试子任务，包括：将测试计划至少分解为测试资源分配，测试向量生成，开短路测试，内建自测试、调修测试子任务；测试子任务类型分为测试机指令相关任务、通讯协议相关任务和测试机资源分配任务； 所述智能体基于测试子任务生成测试子任务文档，具体包括：若智能体判断测试子任务与测试向量生成或测试资源分配相关，则智能体调用测试向量生成程序和测试资源分配程序，并将测试子任务和调用的测试向量生成程序输出和测试资源分配程序输出，输入至第二生成式AI模型，从而生成测试子任务文档； 若智能体判断测试子任务使用测试指令集，则智能体调用数据库检索工具，将测试子任务和数据库检索工具的检索结果输出至第二生成式AI模型，从而生成测试子任务文档； 智能体调用第二生成式AI模型生成测试子任务文档，包括：通过检索增强技术，生成不限于智能体的训练数据对应生成的测试子任务文档；第二生成式AI模型为应用于文本生成的生成式AI模型； 还包括集成电路进行测试得到测试文档，并基于测试文档建立调试数据库，调试智能体基于检索调试数据库调用第三生成式AI模型，进行测试程序修改和优化。

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