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龙图腾网获悉浙江光特科技有限公司申请的专利芯片自动测试方法、系统、计算机设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115032523B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210632140.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片自动测试方法、系统、计算机设备和存储介质是由万远涛;龚正致;况诗吟设计研发完成，并于2022-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片自动测试方法、系统、计算机设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明适用于计算机技术领域，提供了一种芯片自动测试方法、系统、计算机设备和存储介质，所述方法包括以下步骤：根据待测试芯片的分布情况，规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；按设定的运动轨迹依照测试策略次对芯片进行测试，并输出测试结果；所述测试策略为：对当前待测芯片调用对应的测试程序进行测试，同时还获取下一个待测芯片的图像信息；对获取到的下一个待测芯片的图像信息进行识别，判定所述下一个待测芯片的型号与当前正在测试的待测芯片的型号是否相同；直至所有待测芯片均测试完成，本发明的有益效果是：可以实现不同型号产品的混测，极大的提升测试效率和降低成本。

本发明授权芯片自动测试方法、系统、计算机设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.芯片自动测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 根据待测试芯片的分布情况，规划探针或光纤或承片台的运动轨迹； 按设定的运动轨迹依照测试策略次对芯片进行测试，并输出测试结果； 所述测试策略为： 对当前待测芯片调用对应的测试程序进行测试，同时还获取下一个待测芯片的图像信息； 获取下一个待测芯片的图像信息，并对所述下一个待测芯片的图像信息进行裁剪处理，保留特征区域的图像，所述特征区域为芯片表面存在标记的区域； 将所述特征区域的图像输入至预设的图像识别模型，输出得到下一个待测芯片的图像识别结果，以得到所述下一个待测芯片的型号； 判定所述下一个待测芯片的型号与当前正在测试的待测芯片的型号是否相同； 当所述待测芯片的型号与下一个待测芯片的型号相同时，直接以当前测试程序对下一个待测芯片进行测试； 当所述待测芯片的型号与下一个待测芯片的型号不同时，获取下一个待测芯片的型号信息； 将所述下一个待测芯片的型号信息输入至预先建立好的型号信息与测试程序映射模型中，得到与所述下一个待测芯片匹配的测试程序； 在当前待测芯片测试完成后，切换至与下一个待测芯片对应的测试程序进行测试； 直至所有待测芯片均测试完成； 测试过程中： 当所述测试结果为Y时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加通过标记，当所述测试结果为N时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加不通过标记，并将含有不通过标记的坐标以及测试结果加入至待处理集合中； 全部芯片测试完成后，向用户输出所述待处理集合。

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