美光科技公司C·M·斯米奇赫盖尔获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115132255B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210293194.3，技术领域涉及：G11C16/16；该发明授权使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理是由C·M·斯米奇赫盖尔;G·F·贝桑格;R·C·帕迪拉;T·欧帕斯特拉库恩;S·K·瑞特南;M·G·米勒;V·P·拉亚普鲁;A·马尔谢设计研发完成，并于2022-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理在说明书摘要公布了：本申请案涉及使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理。一种系统包含存储器装置；和处理装置，其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下操作的操作：识别已在所述存储器装置的开放块上发生的存储电荷损失SCL的量，所述开放块具有一或多个经擦除页；确定所述SCL量满足与将在所述开放块上发生的可接受SCL量对应的阈值准则；和响应于确定所述SCL量满足所述阈值准则，使所述开放块保持开放以用于编程所述一或多个经擦除页。
本发明授权使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理在权利要求书中公布了：1.一种系统，其包括： 替换栅极存储器装置，其包括开放块，所述开放块包括一组经编程页和一组经擦除页；和 处理装置，其以操作方式与所述替换栅极存储器装置耦合以执行包括以下操作的操作： 识别已在所述组经编程页的最早经编程页上发生的存储电荷损失SCL的量； 确定已在所述最早经编程页上发生的所述SCL量是否满足阈值准则，所述阈值准则对应于将在所述最早经编程页上发生的可接受SCL量和将在所述组经擦除页的一或多个经擦除页上发生的可接受电荷增益量；和 响应于确定已在所述最早经编程页上发生的所述SCL量满足所述阈值准则，使所述开放块保持开放以用于编程所述组经擦除页的所述一或多个经擦除页。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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