上海材料研究所薛峰获国家专利权
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龙图腾网获悉上海材料研究所申请的专利一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115166035B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210759521.X,技术领域涉及:G01N29/04;该发明授权一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法是由薛峰;夏玉秀;张义凤;蒋建生设计研发完成,并于2022-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,具体包括以下步骤:S1、获取超声检测系统操作软件上的初次粗略检测增益值、检测范围和检测速度、换能器初始位置;S2、采样得到所检样品的A扫波形图像、B扫波形图像和C扫波形图像进而得到每一个采样坐标点的回波百分比高度;S3、对比所检样品的全部采样点的A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系,根据整体坐标点的波高情况调节探头增益值。与现有技术相比,本发明具有提高检测分辨力,提高系统的自适应能力,减少人工参与,利用算法能够自动、高效、准确的进行整体增益调节,得到更加理想的检测结果等优点。
本发明授权一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法在权利要求书中公布了:1.一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,具体包括以下步骤: S1、获取超声检测系统操作软件上的初次粗略检测增益值、检测范围和检测速度、换能器初始位置; S2、采样得到所检样品的A扫波形图像、B扫波形图像和C扫波形图像进而得到每一个采样坐标点的回波百分比高度; S3、对比所检样品的全部采样点的A扫波形图像的回波百分比高度与预设的参考回波百分比高度的关系,根据整体坐标点的回波百分比高度情况调节探头增益值; 所述步骤S3还包括记录每个采样点的A扫波形图像的回波百分比高度及坐标位置; A扫波形图像的回波百分比高度大于参考回波百分比高度,且大于100%满屏高度,计算出所有超出100%满屏高度的波形和100%满屏高度交叉的时间的差值,定位波形时间差值最大的坐标点,逐步减少超声检测系统的增益值直到该点的采样回波百分比高度降低到预设的参考回波百分比高度,将此时的增益值作为超声检测系统的整体增益值; 步骤S3中调节探头增益值的过程具体为:计算用于调节整体增益值的波动增益值,根据A扫波形图像的回波百分比高度与预设的参考回波百分比高度的关系,在超声检测系统的整体增益值上减去或增加波动增益值,其中波动增益值通过所有采样点的回波百分比高度平均值与参考回波百分比高度差值换算得到。
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