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龙图腾网获悉西南交通大学申请的专利基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115563754B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211171696.5，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法是由葛兴来;柯倩霞;王惠民;冯晓云;肖秀陈设计研发完成，并于2022-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法，具体为：建立IGBT‑散热器系统热网络模型，迭代计算得到每个损耗周期起始节点稳态温度差和半损耗周期节点稳态温度差，构建老化特征参数；结合IGBT模块热阻、饱和压降失效标准，推导老化因子计算公式，建立老化特征参数对应老化程度的映射关系；固定工作条件，测量健康模块在周期损耗下的结温曲线，计算健康状态的老化特征参数值；测量不同老化程度的任意模块在周期损耗下的结温曲线，计算该模块老化特征参数值；最终计算得到被测模块的散热路径和键合线老化水平。本发明的老化特征解耦参数提取更为简单便捷、侵入小、成本低，解耦表征失效模式，表征更全面。

本发明授权基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：计算IGBT的周期损耗，提取功率损耗曲线；建立IGBT-散热器系统热网络模型，计算IGBT在每个损耗周期起始节点的瞬时温度差ΔTlowi和半损耗周期节点的瞬时温度差ΔThighi，迭代计算得到每个损耗周期起始节点稳态温度差ΔTlow和半损耗周期节点稳态温度差ΔThigh；结合IGBT模块散热路径及损耗计算公式，将ΔThigh与ΔTlow相除，构建老化特征参数fun1，将ΔTlow与ΔThigh相加，构建老化特征参数fun2； 步骤2：结合IGBT模块热阻、饱和压降失效标准，推导老化程度因子Δfun1和Δfun2计算公式，建立老化特征参数fun1和fun2与老化的映射关系； 步骤3：固定工作条件，测量健康模块在周期损耗下的结温曲线，提取ΔThigh与ΔTlow，计算健康状态的老化特征参数值，分别为fun1-h和fun2-h；测量不同老化程度的任意模块在周期损耗下的结温曲线，提取ΔThigh与ΔTlow，计算该模块老化特征参数值为fun1-ag和fun2-ag； 步骤4：根据步骤3得到的fun1-h、fun2-h、fun1-ag和fun2-ag，计算Δfun1和Δfun2；根据步骤2中的映射关系，由Δfun1和Δfun2得到被测模块散热路径和键合线老化水平。

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