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华中科技大学江普庆获国家专利权

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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115639242B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211374206.1,技术领域涉及:G01N25/20;该发明授权同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法及系统是由江普庆;杨荣贵;张铭真;宋尚智设计研发完成,并于2022-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。

同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法及系统,属于热物性测量技术领域,先利用预设的满足预设准则的激光光斑尺寸和调制频率对待测样品进行TDTR测量,得到测量信号,然后将待测样品的初始参数值输入传热模型,得到模拟信号,不断对初始参数值进行调整,直至模拟信号和测量信号的偏差小于预设值,此时以初始参数值作为待测样品的测量参数值,测量信号和模拟信号均包括负延迟时间段‑20~‑5ps和正延迟时间段0.1~4ns的相位信号,通过TDTR单次测量即能同时测定样品的热导率、比热容及界面热阻,极大的扩展了TDTR技术的测量能力。

本发明授权同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种同时测定热导率、比热容及界面热阻的测量方法,其特征在于,所述测量方法包括: 利用预设的激光光斑尺寸和调制频率对待测样品进行TDTR测量,得到测量信号;所述测量信号包括负延迟时间段的测量得到的相位信号和正延迟时间段的测量得到的相位信号; 将所述待测样品的初始参数值输入传热模型,得到模拟信号;判断所述模拟信号和所述测量信号的偏差是否小于预设值;若是,则以所述初始参数值作为所述待测样品的测量参数值;若否,则对所述初始参数值进行调整,得到调整后参数值,并以所述调整后参数值作为下一次循环的初始参数值,返回“将所述待测样品的初始参数值输入传热模型”的步骤;所述参数值包括热导率、比热容及界面热阻的取值;所述模拟信号包括负延迟时间段的模拟得到的相位信号和正延迟时间段的模拟得到的相位信号。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人华中科技大学,其通讯地址为:430070 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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