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龙图腾网获悉中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所申请的专利一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115752232B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211357426.3，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法及装置是由任方宇;黄晓婧;崔伟;李小明;马文维;张玉成;李阳阳;袁凯设计研发完成，并于2022-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法及装置，优选装置主要由光学基准、平台、自准直光学仪器、加载仪器组成。待选机载光机产品螺钉包括光学镜片、螺钉，光学镜片可以是透镜、或者反射镜、或者棱镜。优选方法包括确定与螺钉防松相关的影响因素、采集光学基准的位置、采集每一组光学镜片的位置、施加环境载荷、采集卸载后光学基准及每一组光学镜片的位置、计算光学镜片偏移量、选优工艺参数的过程。本发明测量光学镜片在经历载荷前后的位置变动来反应螺钉的松动，检测精度高；通过直接测量被固定光学镜片的偏移量来优选螺钉紧固的工艺参数，即工艺参数直接反应光学镜片的偏移量。

本发明授权一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种机载光机产品螺钉防松工艺参数优选方法，其特征在于，包括机载光机产品螺钉防松工艺参数优选装置，由光学基准1、平台3、自准直光学仪器5、加载仪器组成； 所述光学基准1固定在所述平台3上，能并排平行布置1～6个；所述光学基准1、所述自准直光学仪器5分别位于所述平台3的两端；自准直光学仪器5通过显示器读取光学基准1和光学镜片2的反射像位置； 待选机载光机产品螺钉包括光学镜片2、螺钉4，所述螺钉4将所述光学镜片2固定在所述平台3上；所述光学镜片2位于所述光学基准1、所述自准直光学仪器5之间；所述光学镜片2为反射光线的零件，为透镜、或者反射镜、或者棱镜； 所述平台3设置有光学基准接口31、平台接口32、螺钉孔33；所述光学基准1为反射镜，通过所述光学基准接口31与所述平台3固接； 螺钉孔33与螺钉4匹配，用于固定所述光学镜片2； 反射镜平面度不低于0.5λ@632.8nm，反射率不低于99％； 所述加载仪器包括振动台、温度冲击箱；所述振动台与平台接口32固接，所述平台3通过所述平台接口32固定在所述振动台上；所述温度冲击箱置于所述平台3外围，即所述平台3、所述待选机载光机产品螺钉置于所述温度冲击箱内； 所述温度冲击箱，温度变化范围为-60℃～90℃，温度变化速率不大于3℃min； 振动台频率范围为0～2000Hz，载荷不低于50Kg； 参数优选方法包括如下步骤： 步骤1，确定与螺钉4防松相关的影响因素： 采用加装弹簧垫圈或涂胶作为防松工艺之一，确定与螺钉防松相关的工艺参数，按照正交试验的试验方法对工艺参数进行分组；选取的三种影响螺钉防松性能的因素，三种影响因素分别为：弹簧垫圈材料、紧固力矩、螺纹旋合长度，对不同的因素设置不同的水平； 对选用的弹簧垫圈材料、紧固力矩、螺纹旋合长度分别进行编号；按照正交试验的试验方法对影响因素弹簧垫圈材料A、紧固力矩B、螺纹旋合长度C的不同水平进行组合，每一种组合为一个工艺参数； 步骤2，采集光学基准1的位置： 对光学基准1与平台3进行稳定化处理； 利用自准直光学仪器5采集光学基准1的位置，记录为x，y； 步骤3，采集每一组光学镜片2的位置： 按步骤1中确定的每一种组合的工艺参数，采用螺钉4与弹簧垫圈，将光学镜片2分别安装在螺钉孔33上；安装时，按照距自准直光学仪器5由远到近的次序，依次固定在试验平台3上，并依次记录光学镜片2的初始位置； 每一组光学镜片2对应一组工艺参数； 步骤4，施加环境载荷： 将安装完成后的试验平台安装到振动台上，按照所要求的振动量级和时间对试验平台施加振动载荷； 将试验平台从振动平台上拆除，放置到温度冲击箱中，在-55℃～70℃温度范围内进行温度循环，温度变化速率为3℃min，共进行8个循环； 步骤5，采集卸载后光学基准1、每一组光学镜片2的位置： 卸除环境载荷； 通过自准直光学仪器5依次记录各光学镜片2的位置； 将多组光学镜片2按照距自准直光学仪器5由近到远的次序，依次拆除，拆除前通过自准直光学仪器5依次记录各光学镜片2的位置，全部拆除后记录光学基准1的位置； 步骤6，计算偏移量： 按照光学基准1、每一组光学镜片2在施加环境载荷前后位置的变化，按照正交试验的数据处理方法对数据进行处理，得到每一组光学镜片2相对于光学基准1的偏移量； 步骤7，选优工艺参数： 依据每一组工艺参数所对应的偏移量，即可优选出光学镜片2相对于光学基准1位置的偏移量最小的一组工艺参数，或者选出满足产品要求的多组工艺参数。

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