上海微崇半导体设备有限公司黄红获国家专利权
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龙图腾网获悉上海微崇半导体设备有限公司申请的专利一种光学镜片测量装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116818281B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310747546.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种光学镜片测量装置和方法是由黄红;潘文强;黄崇基设计研发完成，并于2023-06-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光学镜片测量装置和方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光学镜片测量装置和方法，包括光源、半波片、偏振分束镜、14波片、第一反射镜、第二反射镜、第一分束镜、旋转模块、透过率反射率检测模块和啁啾检测模块，通过构建反射测量路径和透射测量路径以及在反射镜上设置可拆卸安装的光束遮挡模块，实现透射率、反射率以及啁啾三种测量，无需重新校准和调试，节省了大量时间，提高了检测效率。此外，还通过旋转模块使得待测镜片和与其对应的反射镜片进行旋转，从而使其能根据不同的光学镜片以及不同的角度测量不同的光学参数，增加了检测多样性，简化了检测复杂度，降低了人力物力成本，有利于企业的可持续发展。
本发明授权一种光学镜片测量装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种光学镜片测量装置，其特征在于，包括光源1、半波片2、偏振分束镜3、14波片6、第一反射镜9、第二反射镜8和透过率反射率检测模块11，待测镜片7设置于所述14波片6和第一反射镜9之间，所述第二反射镜8设置于所述待测镜片7的反射路径上；所述光源1、半波片2、偏振分束镜3和14波片6依次排列设置，形成光源入射路径；所述透过率反射率检测模块11设置于所述偏振分束镜3的反射路径上，所述第二反射镜8、待测镜片7、14波片6和偏振分束镜3形成反射测量路径，所述第一反射镜9、待测镜片7、14波片6和偏振分束镜3形成透射测量路径。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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