中国人民解放军国防科技大学田立朝获国家专利权
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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利中子源方位测量装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117310784B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311172732.4，技术领域涉及：G01T3/06；该发明授权中子源方位测量装置和方法是由田立朝;张湘;吕中良;赵子甲;姜静;王启奇设计研发完成，并于2023-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本中子源方位测量装置和方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种中子源方位测量装置和方法。所述方法包括：待测中子源、多面体中子探测器、中子慢化体结构和电子学及数据获取系统；中子慢化体结构包裹在多面体中子探测器外侧；多面体中子探测器是由多个平面型中子探测器连接而成的，每一平面型中子探测器与电子学及数据获取系统连接；电子学及数据获取系统包括比值计算模块和方位获取模块；比值计算模块根据平面型中子探测器单位时间内输出的电脉冲信号的数量得到中子计数率，根据中子计数率得到每一平面型中子探测器之间中子计数率的相对比值，方位获取模块用于将相对比值输入预先训练的方位获取模型，以获取待测中子源的方位。采用本方法能够缩短中子源方位测量时间、提高中子源方位测量精度。
本发明授权中子源方位测量装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种中子源方位测量装置，其特征在于，所述装置包括： 待测中子源、多面体中子探测器、中子慢化体结构和电子学及数据获取系统； 所述中子慢化体结构包裹在所述多面体中子探测器外侧，用于接收所述待测中子源释放的快中子，并损耗所述快中子的能量以穿出低能中子； 所述多面体中子探测器是由多个平面型中子探测器连接而成的，每一所述平面型中子探测器与所述电子学及数据获取系统连接；所述平面型中子探测器用于将所述低能中子以对应探测效率转换成电脉冲信号； 所述电子学及数据获取系统包括比值计算模块和方位获取模块；所述比值计算模块根据单位时间内输出的电脉冲信号的数量得到中子计数率，根据所述中子计数率得到每一平面型中子探测器之间中子计数率的相对比值，所述方位获取模块用于将所述相对比值输入预先训练的方位获取模型，以获取待测中子源的方位。
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