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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118548824B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410465374.4，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统是由严思杰;彭渝程;杨一帆;易淑茗;丁汉设计研发完成，并于2024-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于三维测量技术领域，并具体公开了一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统。构建并标定结构光测量系统；预投影周期性条纹图案至待测物体表面，获取环境干扰下的测量光强函数，构建环境干扰下的光强噪声模型；根据所述光强噪声模型，通过环境干扰下的光强函数求解出环境光频率，并得到最佳曝光时间，通过光强函数计算饱和掩模图像的阈值范围；根据环境参数得到测量系统最佳曝光与最佳条纹频率，以补偿原有测量参数；根据补偿的原有测量参数、采集的待测物体的光强函数计算目标物体的点云。本发明通过预投影的方式计算出环境光影响频率，通过此干扰频率对双目结构光系统的采集参数进行补偿，从而优化重建效果。

本发明授权一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法，其特征在于，包括以下步骤： S1构建结构光测量系统，并对该测量系统进行标定； S2预投影周期性条纹图案至待测物体表面，获取环境干扰下的测量光强函数，并根据该测量光强函数，构建环境干扰下的光强噪声模型；步骤S2包括以下步骤： S21通过对相机拍摄图片的灰度点的编码进行采样，获取待测物体像素点的灰度信息，将该灰度信息表示为测量光强函数； S22构建环境光影响以及被测物体表面反射影响共同作用下的光强噪声模型； S23基于所述测量光强函数和光强噪声模型求解包裹相位误差与光强误差之间的关系； S24根据包裹相位误差与光强误差之间的关系，将多重噪声影响下的相位误差分为整体影响下的相位误差和周期性环境光影响下的相位误差； S3根据所述光强噪声模型，通过环境干扰下的光强函数求解出环境光频率，并得到最佳曝光时间，通过光强函数计算饱和掩模图像的阈值范围；步骤S3包括： S31通过环境干扰下的光强函数求解环境光频率并得到最佳曝光时间，通过对预投影的光强函数进行分析，得到在周期性环境光影响下的光测量系统的四步相移法中，相邻条纹投影步数之间会由于周期性环境光影响，条纹采集光强与相邻步数中条纹采集光强产生差异，设周期性环境光影响的频率为，通过相邻相位求解得到： ，式中，N为移相步数，为实际采集背景光强模型，A0为理想背景光强模型，根据所述识别并补偿投影曝光与相机采集触发间隔，从而得到最佳曝光时间，为相位信息； S32根据所述光强噪声模型，通过设置掩模图像确定条纹投影采集中的有效范围： ， 式中，为像素P点对应的掩模范围，为像素P点对应的有效上界，为像素P点对应的有效下界，为上界所对应的最大投影仪亮度，为下界所对应的最大投影仪亮度； S4根据环境参数得到测量系统最佳曝光时间与最佳条纹频率，以补偿原有测量参数； S5根据补偿的原有测量参数、采集的待测物体的光强函数计算目标物体的点云。

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