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中国科学院合肥物质科学研究院司福祺获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119437440B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411581126.2,技术领域涉及:G01J5/48;该发明授权一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法是由司福祺;李浩然;江宇;林方;奚亮;刘凤垒;曾议;韩云坤设计研发完成,并于2024-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法在说明书摘要公布了:本发明涉及探测器工作温度确定技术领域,尤其涉及一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法。该方法包括以下步骤:进行理论分析,确定信噪比公式,分析探测器信号与温度关系以及探测器噪声与温度关系,并理论计算信噪比与温度关系;同时进行实验室测量,包括实验设置和数据采集与计算;最后综合理论计算以及实际测量的信噪比结果,确定InGaAs探测器最佳工作温度。本发明可以获得InGaAs探测器具有最高信噪比时的工作温度,在使用InGaAs探测器进行测量时,使用温控模块,将InGaAs探测器始终稳定在该温度,使得基于InGaAs探测器的短波红外光谱仪具有较好的工作性能,提高仪器测量精度。

本发明授权一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法在权利要求书中公布了:1.一种用于光谱仪探测器最佳工作温度确定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: 进行理论分析,确定信噪比公式,分析探测器信号与温度关系,分析探测器噪声与温度关系,并理论计算信噪比与温度关系;信噪比计算公式为: 其中,代表光谱仪在固定光源下所测量到的光信号,表示为,指代除探测器量子效率外,在光谱仪结构设计好后其他确定参数的乘积;为正常测量时探测器总噪声,表达式为,探测器噪声由读出噪声、散粒噪声、暗电流噪声和固定模式噪声组成; 分析探测器信号与温度关系具体包括: 对InGaAs探测器量子效率与温度之间的关系进行量化分析,选择对反演波段1630nm-1660nm内的响应DN值进行平均,以温度为横坐标,响应平均值为纵坐标进行曲线拟合,用响应平均值代替探测器测量信号参与探测器信噪比与温度关系的计算中; 分析探测器噪声与温度关系具体为:用探测器的暗电流噪声来代替信噪比计算中的总噪声,理论计算信噪比与温度关系: 用公式: 进行近似计算,其中用反演波段响应平均DN值代替探测器量子效率,用暗背景噪声灰度响应值代替暗电流噪声; 进行实验室测量,包括实验设置和数据采集与计算;所述数据采集与计算包括: 连续测量200组不同温度下光谱响应,以其响应的平均值作为信号,标准偏差作为噪声; 根据公式: 得到光谱仪实际测量信噪比; 综合理论计算以及实际测量的信噪比结果,确定InGaAs探测器最佳工作温度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院合肥物质科学研究院,其通讯地址为:230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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