杭州拓致光电科技有限公司沈文浩获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州拓致光电科技有限公司申请的专利一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119533861B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411653580.4，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置及方法是由沈文浩;关珮雯;邱诚浩;晋帅;方燕;李伟设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及体光栅性能检测技术领域，尤其涉及一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置及方法。本发明可调谐激光器出射光依次通过λ2波片和偏振分束装置后变为水平偏振光，水平偏振光通过λ4波片后变为圆偏振态并入射至待测反射式体光栅，透过待测反射式体光栅的光经衰减片衰减后被全反射镜返回，全反射镜的角度调整至光路正回返状态，并再次经过λ4波片，此时光变为垂直偏振光，被偏振分束装置反射后，进入功率计1，计算机根据功率计1读数计算出待测反射式体光栅的性能。本发明可同时检测反射式体光栅同一点上前后表面的性能参数，使得测试结果更准确，且简化测试光路的调试过程。此外，由于减少了摆放次数，产品脏污率也有明显改善。
本发明授权一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种同时测量反射式体光栅双面性能的装置，其特征在于，所述装置包括在同一水平线上依次放置的可调谐激光器、λ2波片、偏振分束装置、λ4波片、测试台、衰减片和全反射镜，所述测试台具有夹持反射式体光栅并旋转角度的功能，所述测试台上放置有待测反射式体光栅，所述装置还包括功率计1和与所述功率计1连接的计算机； 所述可调谐激光器出射光依次通过λ2波片和偏振分束装置后变为水平偏振光，水平偏振光通过λ4波片后变为圆偏振态并入射至待测反射式体光栅，透过待测反射式体光栅的光经衰减片衰减后被全反射镜返回，全反射镜的角度调整至光路正回返状态，并再次经过λ4波片，此时光变为垂直偏振光，被偏振分束装置反射后，进入功率计1，计算机根据功率计1读数计算出待测反射式体光栅的性能。
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