中国人民解放军国防科技大学罗登获国家专利权
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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119853686B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411647330.X,技术领域涉及:H03M1/10;该发明授权用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质是由罗登;赵强国;郭阳;梁斌;池雅庆;陈建军;孙晗晗设计研发完成,并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于双比较器结构SARADC的失调失配校准方法及存储介质,其包括:步骤S1:ADC开始校准;步骤S2:统计n次最后一次比较结果;步骤S3:分别计算比较器1和比较器2比较结果的数学期望P11和P21;步骤S4:计算插值是否在设定范围内;如果是,则校准完成;如果否,则计算误差函数;根据设置的步长调整比较器失调,回到步骤S2。该存储介质用来存储用来执行上述方法的计算机程序。本发明具有原理简单、操作简便、适用范围广、校准效果好和精度高等优点。
本发明授权用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质在权利要求书中公布了:1.用于双比较器结构SARADC的失调失配校准方法,其特征在于,包括: 步骤S1:ADC开始校准; 步骤S2:统计n次最后一次比较结果; 步骤S3:分别计算比较器1和比较器2比较结果的数学期望P11和P21; 步骤S4:计算插值是否在设定范围内;如果是,则校准完成;如果否,则计算误差函数;根据设置的步长调整比较器失调,回到步骤S2; 通过使用随机信号来控制比较器1和比较器2的首先开始顺序,使比较器1和比较器2在一次转换中的首先开始概率相同,然后隔一段时间统计最后一次比较器1比较结果的数学期望和比较器2比较结果的数学期望,计算出误差函数: ; 当比较器1先开始比较,并且输入信号服从均匀分布时,第N次比较结果是1的概率为: 其中Vos1是比较器1的失调电压,Vos2是比较器2的失调电压;在上式中,当N为偶数时,为“0”;当N为奇数时,为“1”; 当比较器2先开始比较,第N次比较结果是1的概率为: 在上式中,当N为偶数时,为“0”;当N为奇数时,为“1”; 采用LMS迭代算法使两个比较器之间的失调失配趋近于0: 上式中,Vos1n为第n次统计时比较器1的失调,μ为迭代步长,为第n次统计时的误差函数。
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