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龙图腾网获悉科创星光(北京)科技有限公司申请的专利一种Toci全谱阴离子真值监测方法、系统、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120853708B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511033997.5，技术领域涉及：G16C20/10；该发明授权一种Toci全谱阴离子真值监测方法、系统、设备及介质是由左泽青;叶福林;于行安设计研发完成，并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种Toci全谱阴离子真值监测方法、系统、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种Toci全谱阴离子真值监测方法、系统、设备及介质，涉及化学分析的技术领域。方法包括，获取目标水样中的响应信号，以时间为横坐标轴，响应信号为纵坐标轴，绘制背景响应峰以及目标响应峰，获取背景响应峰的峰形参数，并计算峰形参数与预设的基准峰形参数之间的差异值，将差异值转换为特征校正指令，并基于特征校正指令对目标响应峰进行补偿，得到真实响应峰，计算真实响应峰的第一峰面积，并根据第一峰面积得到目标阴离子的初始浓度，获取背景阴离子的背景浓度，根据背景浓度计算浓度调节系数，将初始浓度与浓度调节系数相乘，得到目标阴离子的目标浓度。实施本申请提供的技术方案，达到了提高对目标阴离子监测的准确性的作用。

本发明授权一种Toci全谱阴离子真值监测方法、系统、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种Toci全谱阴离子真值监测方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括： 获取目标水样中全谱阴离子的响应信号，所述全谱阴离子包括背景阴离子和目标阴离子，所述响应信号包括背景阴离子的背景响应信号和目标阴离子的目标响应信号； 以时间为横坐标轴，响应信号为纵坐标轴，绘制所述背景响应信号对应的背景响应峰以及所述目标响应信号对应的目标响应峰； 获取所述背景响应峰的峰形参数，并计算所述峰形参数与预设的基准峰形参数之间的差异值； 将所述差异值转换为特征校正指令，并将所述特征校正指令解析为一组逆向操作参数和至少一个信号增益因子，所述逆向操作参数用于抵消由所述差异值所表征的峰形畸变，所述信号增益因子用于补偿由所述差异值间接指示的所述目标响应信号的抑制； 根据所述逆向操作参数对所述目标响应峰进行坐标变换运算，得到中间目标响应峰； 将所述中间目标响应峰在纵坐标轴上对应的响应信号作为中间目标响应信号，将所述中间目标响应信号乘以所述信号增益因子得到真实响应信号，并将所述真实响应信号形成的峰形作为真实响应峰； 计算所述真实响应峰的第一峰面积，并根据所述第一峰面积得到所述目标阴离子的初始浓度； 获取所述背景阴离子的背景浓度，构建第一比值与第二比值的等式，根据所述等式计算得到理论峰面积，所述第一比值为所述理论峰面积与所述背景浓度的比值，所述第二比值为所述背景阴离子在无干扰的纯溶剂中的基准背景峰面积与无干扰环境下的背景阴离子浓度的比值； 根据所述背景响应信号，对所述背景响应峰进行积分运算得到第二峰面积； 计算所述理论峰面积与所述第二峰面积的差值，得到信号偏差，并将所述信号偏差除以所述理论峰面积，得到偏差率； 将所述偏差率的一次幂与所述偏差率的二次幂求和再加上1，得到浓度调节系数； 将所述初始浓度与所述浓度调节系数相乘，得到所述目标阴离子的目标浓度。

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