原粒(北京)半导体技术有限公司方绍峡获国家专利权
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龙图腾网获悉原粒(北京)半导体技术有限公司申请的专利一种检测计算图中的重复子图的方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120973369B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510376276.8,技术领域涉及:G06F8/41;该发明授权一种检测计算图中的重复子图的方法及装置是由方绍峡;原钢设计研发完成,并于2025-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检测计算图中的重复子图的方法及装置在说明书摘要公布了:本申请提供了一种检测计算图中的重复子图的方法及装置。分别获取计算图中的各个节点的节点数据指纹;按照计算图中的节点的先后执行顺序,将计算图中的各个节点的节点数据指纹组成指纹数组;对指纹数组进行自相关计算,得到自相关值数组;根据自相关值数组,确定计算图中的两个重复子图的起始节点之间的节点偏移量;根据节点偏移量及指纹数组,在计算图中查找多个重复子图。本申请的方案检测准确率高,且简单直观,可以降低计算复杂度和存储复杂度,可以降低对设备的计算性能的要求,可以降低对设备的存储性能的要求,易于软件或硬件实现,可以降低检测门槛,能够快速高效地检测出计算图中的重复的子图,尤其是循环重复子图。
本发明授权一种检测计算图中的重复子图的方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种检测计算图中的重复子图的方法,其特征在于,所述方法包括: 分别获取计算图中的各个节点的节点数据指纹; 按照计算图中的节点的先后执行顺序,将计算图中的各个节点的节点数据指纹组成指纹数组; 对所述指纹数组进行自相关计算,得到自相关值数组;自相关值数组中包括多个自相关值,其中一个自相关值是基于自相关算法对指纹数组与指纹数组进行计算而得到的,多个自相关值中的除所述其中一个自相关值以外的其他自相关值是基于自相关算法对指纹数组分别与各个不同的偏移数组进行计算而得到的,各个不同的偏移数组是对指纹数组分别进行不同数量的节点的时序偏移后得到的; 根据自相关值数组,确定计算图中的两个重复子图的起始节点之间的节点偏移量; 根据所述节点偏移量以及所述指纹数组,在计算图中查找多个重复子图。
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