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龙图腾网获悉中国检验检疫科学研究院综合检测中心申请的专利一种基于X光的食品检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121027184B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511344012.0，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权一种基于X光的食品检测方法是由牛相涛;杨冰洁;马金灿;叶颖慧;张洋;薛晓晶;宋小莉;赵阳;郝瑀;陈航宇;宋家璇设计研发完成，并于2025-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于X光的食品检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及检测领域，特别是涉及一种基于X光的食品检测方法，在对食品样品进行XRD检测时能够实时预测未来设定时长内的温度变化，从而确定样品的温度是否会偏差过大，若会，则相应地调节X光发射器的功率，进而调整样品的净吸热量，使其温度偏差回落至较小的程度，从而可以保持样品的温度始终处于初始温度上下，能够保持其结晶晶形在检测过程中不发生变化，进而保证样品检测的准确性。

本发明授权一种基于X光的食品检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于X光的食品检测方法，其特征在于，所述方法包括： S1：取设定质量的待测的结晶食品进行预处理，得到食品样品； S2：检测食品样品的初始温度后，将食品样品置于XRD衍射仪的样品台； S3：开始检测后，监测X光发射器的功率以及XRD衍射仪中的空间温度，调取食品样品的热导参数； S4：在检测过程中的每一时刻，将该时刻作为当前时刻，依据X光发射器的功率、热导参数、初始温度、空间温度确定食品样品在当前时刻之后设定时长内的温度预测曲线； S5：依据温度预测曲线判断未来设定时长内是否存在任一时刻食品样品的温度与初始温度的偏差大于设定偏差，若否，则调控X光发射器的功率，以使食品样品在未来设定时长内每一时刻的温度与初始温度的偏差小于设定偏差，若是，则不调控X光发射器的功率； S6：完成检测后，依据X光发射器在检测过程中的功率变化对衍射图谱中的衍射峰进行峰高调整； S7：用调整后的衍射图谱与标准图谱进行比对，以确定结晶食品的晶形； 在检测过程中，实时生成X光发射器的时刻-功率曲线；依据X光发射器在检测过程中的功率变化对衍射图谱中的衍射峰进行峰高调整包括： 调取检测得到的XRD衍射图谱，并将XRD衍射图谱的横坐标换算成时刻； 调取生成的时刻-功率曲线，并将时刻功率曲线的横坐标与XRD衍射图谱的横坐标对齐； 将时刻-功率曲线的初始段的功率确定为基础功率； 对于后续每一次调控后的功率区段，确定该功率区段的区段功率； 调取功率-强度曲线，在功率-强度曲线上确定该区段功率对应的第一强度，以及基础功率对应的第二强度，并计算第一强度与第二强度的比值，得到调整比； 识别该功率区段对应在XRD衍射图谱的衍射曲线段，进而依据调整比调整横衍射曲线段的纵坐标值，以实现对该衍射曲线段的峰高调整。

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