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龙图腾网获悉西安中核核仪器股份有限公司申请的专利基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121115645B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511665968.0，技术领域涉及：G05B19/042；该发明授权基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法是由杨卫涛;黄金龙;杜俊涛;李明旭;秦慧超;黄育伯;王刚;花锋设计研发完成，并于2025-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法，属于核电站控制系统可靠性设计技术领域。本发明针对核电站非事故状态下的不同工况阶段，分别获取辐射粒子环境数据，为后续评估的精准性奠定基础；其次，基于各工况的辐射环境数据，先确定单粒子效应与总剂量效应的最严酷工况，以此缩小后续仿真模拟的范围，降低数据处理开销；接着，通过蒙特卡洛仿真模拟最严酷工况下的辐射效应，直接定位两类效应对应的最敏感器件电路，为加固措施提供明确目标；最后，基于最敏感器件的可靠性判定结果，对最敏感器件电路采用分级处理策略，避免过度加固导致的成本浪费，最终实现对FPGA系统高效费比的可靠性保障。

本发明授权基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法在权利要求书中公布了：1.一种基于辐射效应的核电站用FPGA系统可靠性保障方法，其特征在于：该方法包括有如下步骤： S1、获取非事故状态下FPGA系统在不同工况阶段所处的辐射粒子环境数据；工况阶段包括反应堆启动与低功率运行阶段、满功率运行阶段、换料与大修阶段、停运与退役阶段；辐射离子环境数据包括有中子和γ射线的能量、通量和持续时间数据； S2、根据步骤S1获取的数据，分别确定单粒子效应最严酷工况和总剂量效应最严酷工况； 步骤S2中，确定单粒子效应最严酷工况和总剂量效应最严酷工况的过程为： 根据不同工况阶段下中子和γ射线的能量、通量和持续时间，计算出不同工况阶段对应的中子和γ射线的累计注量； 将中子的累计注量最大时对应的工况阶段作为单粒子效应最严酷工况，将γ射线的累计注量最大时对应的工况阶段作为总剂量效应最严酷工况； S3、构建FPGA系统中各器件电路的辐射效应仿真模型，针对步骤S2确定的单粒子效应最严酷工况和总剂量效应最严酷工况，分别进行蒙特卡洛仿真模拟； S4、根据步骤S3的蒙特卡洛仿真结果，分别筛选出单粒子效应最严酷工况下FPGA系统的单粒子效应最敏感器件电路，和总剂量效应最严酷工况下FPGA系统的总剂量效应最敏感器件电路； S5、对步骤S4筛选出的最敏感器件电路进行可靠性判定，根据判定结果分别进行加固或替换处理； S6、执行上述步骤后，将该FPGA系统投入使用。

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