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龙图腾网获悉湖南进芯电子科技有限公司申请的专利硬件自测试控制方法、装置、系统、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121349785B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511897496.1，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权硬件自测试控制方法、装置、系统、设备及介质是由吴修英;黄嵩人;陈昕;林镇坤设计研发完成，并于2025-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本硬件自测试控制方法、装置、系统、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种硬件自测试控制方法、装置、系统、设备及介质，方法包括首先获取硬件的个体校准参数和第一多维度环境参数；然后根据个体校准参数对第一多维度环境参数进行校准，得到第一校准环境参数；接着将第一校准环境参数输入环境－分频映射模型，得到当前环境下的第一目标分频系数；接着根据第一目标分频系数选择对应的测试向量集进行硬件的自测试，得到自测试结果；最后根据自测试结果生成分级预警信息和故障定位信息。本申请能够提高分频系数配置精度，降低测试误判率，提高测试效率和安全性。

本发明授权硬件自测试控制方法、装置、系统、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种硬件自测试控制方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取硬件的个体校准参数和第一多维度环境参数，所述个体校准参数用于指示硬件通过校准得到的修正系数和偏移量，所述第一多维度环境参数用于指示硬件的运行环境； 根据所述个体校准参数对所述第一多维度环境参数进行校准，得到第一校准环境参数； 将所述第一校准环境参数输入环境－分频映射模型，得到当前环境下的第一目标分频系数； 根据所述第一目标分频系数选择对应的测试向量集进行硬件的自测试，得到自测试结果； 根据所述自测试结果生成分级预警信息和故障定位信息； 根据所述第一目标分频系数选择对应的测试向量集进行硬件的自测试，得到自测试结果，包括： 将所述第一目标分频系数写入分频系数控制寄存器以配置测试频率； 对所述分频系数控制寄存器的值进行回读验证，得到分频系数回读值； 将所述分频系数回读值与所述第一目标分频系数进行验证，得到验证结果； 在所述验证结果指示所述分频系数回读值与所述第一目标分频系数一致的情况下，根据所述第一目标分频系数匹配测试向量集： 其中，所述测试向量集包括高密度测试向量集和精简测试向量集，在所述第一目标分频系数为SYSCLK1或SYSCLK2的情况下，匹配高密度测试向量集；在第一目标分频系数为SYSCLK4或SYSCLK8的情况下，匹配精简测试向量集，所述SYSCLK为硬件的系统时钟； 根据匹配的所述测试向量集执行自测试流程，得到自测试结果。

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