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龙图腾网获悉江西兆驰半导体有限公司申请的专利一种晶圆片分选方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115863196B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211512003.4，技术领域涉及：H10P74/00；该发明授权一种晶圆片分选方法是由朱兵兵;王晓明;赵晓明;董国庆;文国昇;金从龙设计研发完成，并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶圆片分选方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种晶圆片分选方法，方法包括在晶圆片上刻出T字码，得到T字码在晶圆片的位置信息，然后对晶圆片进行测试，得到测试数据，测试数据与位置信息进行AOI合档，AOI扫描合档包括将测试数据、位置信息以及外观体征信息进行合档，以使三者相对应，并得到合档数据，扫描晶圆片的外观实物信息并与合档数据统一，若统一，使晶圆片按合档数据分选。本发明通过在晶圆片上刻T字码，然后测试晶圆片得到晶圆片的测试数据，通过位置信息与测试数据进行合档，得到合档数据，然后通过扫描晶圆片的外观实物信息，使外观实物信息与合档数据统一，若外观实物信息与分选合档数据对应，则晶圆片实物与测试数据相符，避免出现实物与数据不符的情况。

本发明授权一种晶圆片分选方法在权利要求书中公布了：1.一种晶圆片分选方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 步骤一，在若干晶圆片上的随机位置上刻出标记； 步骤二，对各所述晶圆片进行测试，以得到各所述晶圆片的测试数据，所述测试数据至少包括外观体征信息； 步骤三，根据所述晶圆片上的所述标记，构建所述晶圆片的Map数据图，所述Map数据图包括所述标记在所述晶圆片上的位置信息； 步骤四，对若干所述晶圆片进行AOI扫描合档，所述AOI扫描合档具体包括将所述测试数据、所述位置信息以及所述外观体征信息进行合档，以使所述晶圆片的所述测试数据、所述位置信息以及所述外观体征信息对应，并得到合档数据； 步骤五，若所述晶圆片的所述位置信息、所述测试数据以及所述外观体征信息不对应，则重复所述步骤二至所述步骤四； 步骤六，通过分选机扫描所述晶圆片的外观实物信息，所述外观实物信息至少包括所述标记在所述晶圆片上的位置信息，并与合档数据对应，若所述外观实物信息与所述合档数据中的位置信息统一，以使所述分选机通过所述合档数据对所述晶圆片进行分选。

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