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龙图腾网获悉武汉联影生命科学仪器有限公司申请的专利数据校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116831604B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310885869.8，技术领域涉及：A61B6/00；该发明授权数据校正方法是由徐探;许文挺设计研发完成，并于2021-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本数据校正方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种数据校正方法。所述方法包括：控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。采用本方法能够提高探测器的响应均匀性。

本发明授权数据校正方法在权利要求书中公布了：1.一种数据校正方法，其特征在于，所述方法包括： 控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射； 获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；所述目标探测器包括多个探测器像素； 基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；所述目标校正关系包括目标增益系数和目标偏差系数两个目标校正系数； 在所述目标探测器的全部探测器像素中确定死探测器像素和饱和探测器像素； 采用预设校正算法分别对所述死探测器像素的第二计数数据和所述饱和探测器像素的第二计数数据进行校正处理，确定所述死探测器像素的目标计数数据和所述饱和探测器像素的目标计数数据； 根据多个所述探测器像素对应的目标校正系数，将所述多个探测器像素划分为系数正常的第一探测器像素和系数异常的第二探测器像素；包括，从所述目标探测器的全部探测器像素中剔除所述死探测器像素和所述饱和探测器像素，并根据剩余的探测器像素对应的目标校正系数，将所述剩余的探测器像素划分为系数正常的所述第一探测器像素和系数异常的所述第二探测器像素； 根据各所述第一探测器像素对应的目标校正系数对各所述第一探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各所述第一探测器像素的目标计数数据； 采用预设校正算法对各所述第二探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各所述第二探测器像素的目标计数数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉联影生命科学仪器有限公司，其通讯地址为：430206 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼G2-103室(自贸区武汉片区)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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