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龙图腾网获悉无锡芯感智半导体有限公司申请的专利基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118010248B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410311833.3，技术领域涉及：G01L27/00；该发明授权基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统是由刘同庆设计研发完成，并于2024-03-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统在说明书摘要公布了：本发明公开了基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统，涉及温压修正技术领域，解决了现有技术中，无法结合分析以至于造成温压修正出现偏差的技术问题，具体为对MEMS压力传感器进行温压影响分析，判断MEMS压力传感器周边环境变动时温压数值影响是否正常；对监测对象进行温压可控性分析，判断监测对象运行过程中温压可控性是否满足实际需求，保证监测对象的监测准确性，同时对监测对象的温压修正进行合理监管控制；对监测对象的温压影响和控制效率进行结合分析，判断监测对象的温压控制或者温压影响监测是否准确，避免多影响条件下温压控制或者温压影响异常，造成温压修正出现偏差，导致监测对象的温压修正准确性降低。

本发明授权基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统在权利要求书中公布了：1.基于MEMS压力传感器的温压多次修正系统，其特征在于，包括服务器，服务器通讯连接有温压可控性分析单元、温压影响分析单元、结合影响分析单元、测量偏差分析单元以及温压修正影响分析单元； 温压影响分析单元对MEMS压力传感器进行温压影响分析，将MEMS压力传感器标记为监测对象，通过温压影响分析生成温压高影响信号或者温压低影响信号；温压可控性分析单元对监测对象进行温压可控性分析，通过温压可控性分析生成非可控信号或者可控信号；完成温压影响分析和温压可控性分析后，结合影响分析单元对监测对象的温压影响和控制效率进行结合分析；结合影响分析单元的运行过程如下： 获取到监测对象内部运行环境进行温压控制前后周边环境温压数值浮动影响内部温压数值浮动的平均跨度差以及监测对象周边运行环境温压数值浮动前后内部温压数值控制耗时的最大差量，并将其分别与平均跨度差阈值和耗时最大差量阈值进行比较： 若监测对象内部运行环境进行温压控制前后周边环境温压数值浮动影响内部温压数值浮动的平均跨度差超过平均跨度差阈值，或者监测对象周边运行环境温压数值浮动前后内部温压数值控制耗时的最大差量超过耗时最大差量阈值，则生成结合影响分析异常信号并将结合影响分析异常信号发送至服务器； 若监测对象内部运行环境进行温压控制前后周边环境温压数值浮动影响内部温压数值浮动的平均跨度差未超过平均跨度差阈值，且监测对象周边运行环境温压数值浮动前后内部温压数值控制耗时的最大差量未超过耗时最大差量阈值，则生成结合影响分析正常信号并将结合影响分析正常信号发送至服务器； 测量偏差分析单元对监测对象的测量进行偏差分析，完成测量偏差分析后，温压修正影响分析单元对温压修正过程中监测对象内部环境进行影响分析。

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