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龙图腾网获悉北京航天计量测试技术研究所申请的专利一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119865236B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510026441.7，技术领域涉及：H04B10/071；该发明授权一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置是由冯宇祥;吴宸;张萌;马景灿;陶翔;张一璇;缪寅宵;裴雅鹏;张铁犁;高雅设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置，包括采用频域反射仪对光学链路初始状态下的回波光信号进行测量，得到第一信号；将光学链路功能状态改变后，再次利用频域反射仪对光学链路回波光信号进行测量，得到第二信号；将测得的第一信号和第二信号分别进行快速傅里叶变换，获得对应的频域信号，得到距离和功率关系曲线；在两频域信号中通过滑窗截取同一频段转换为时域信号，对两组信号的时域信号进行互相关运算，获得瑞利散射频移；结合系数，通过计算得到距离和功率分布曲线。本申请可以实现器件级到链路级的集成系统光场幅度、相位参量的快速精确测量校准，高效测量片上光学链路的回损、插损、光谱、延迟等参数。

本发明授权一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于光频域反射的光学链路测试方法，其特征在于，包括： 频域反射仪对频域反射仪的探测光信号在初始状态的光学链路中的回波光信号测量解调，得到第一信号，所述回波光信号携带链路中待测节点的光场幅度、相位信息； 调控片上光链路中的光电调控单元，使光链路状态发生改变，频域反射仪对频域反射仪的探测光信号在状态发生改变的光学链路中的回波光信号测量解调，得到第二信号，所述回波光信号携带链路变化后同一待测节点的光场幅度、相位信息； 将所述第一信号和所述第二信号分别进行快速傅里叶变换，获得所述第一信号的频域信号和所述第二信号的频域信号； 将所述第一信号的频域信号的信号段和所述第二信号的频域信号的信号段分别进行逆快速傅里叶变换，转换为所述第一信号的时域信号和所述第二信号的时域信号，得到频域反射仪到光学链路探测待测节点的距离和频移关系曲线； 对所述第一信号的时域信号和所述第二信号的时域信号进行互相关运算，获得整个光学链路各待测节点的瑞利散射频移； 结合系数，通过计算得到频域反射仪到光学链路探测待测节点的距离和功率分布曲线，得到回波光信号通过光学链路后的相幅调制结果。

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