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龙图腾网获悉深圳市德明利技术股份有限公司申请的专利一种固态硬盘扫描方法、装置及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119883125B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411973251.8，技术领域涉及：G06F3/06；该发明授权一种固态硬盘扫描方法、装置及相关设备是由刘军设计研发完成，并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种固态硬盘扫描方法、装置及相关设备在说明书摘要公布了：本申请涉及固态硬盘领域，尤其涉及一种固态硬盘扫描方法、装置及相关设备。述方法包括：获取固态硬盘中主控芯片的第一实时温度和固态硬盘中闪存芯片的第二实时温度；确定第一实时温度和第二实时温度之间的温度差、第一实时温度与第一温度阈值之间的大小关系以及第二实时温度与第一温度阈值之间的大小关系；响应于第一实时温度和或第二实时温度大于第一温度阈值，启动高温计时；响应于温度差大于第二温度阈值，和或，通过高温计时所得到的时长大于时间阈值，针对闪存芯片进行扫描；本申请能够解决现有的固态硬盘扫描方法存在的扫描不及时的技术问题。

本发明授权一种固态硬盘扫描方法、装置及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘扫描方法，其特征在于，应用于固态硬盘，所述方法包括： 获取所述固态硬盘中主控芯片的第一实时温度和所述固态硬盘中闪存芯片的第二实时温度； 确定所述第一实时温度和所述第二实时温度之间的温度差、所述第一实时温度与第一温度阈值之间的大小关系以及所述第二实时温度与所述第一温度阈值之间的大小关系； 响应于所述第一实时温度和或所述第二实时温度大于第一温度阈值，启动高温计时； 响应于所述温度差大于第二温度阈值，和或，通过所述高温计时所得到的时长大于时间阈值，针对所述闪存芯片进行扫描； 其中，所述主控芯片中存储有第一状态表和第二状态表，所述第一状态表用于记录所述闪存芯片中的不稳定块的存储位置，所述第二状态表用于记录所述闪存芯片中的冷数据块的存储位置；所述针对所述闪存芯片进行扫描，包括：根据所述第一状态表中所记录的所述不稳定块的存储位置，针对所述不稳定块中所存储的数据进行第一次扫描得到第一扫描结果；根据所述第一状态表，将所述第二状态表中所记录的多个所述不稳定块中，未进行所述第一次扫描的所述冷数据块，确定为待扫描块；根据所述第二状态表中所记录的所述待扫描块的存储位置，针对所述待扫描块中所存储的数据进行第二次扫描得到第二扫描结果； 其中，所述针对所述不稳定块中所存储的数据进行第一次扫描得到第一扫描结果之后，所述方法还包括：根据所述第一扫描结果，将所存储的数据存在出错的所述不稳定块确定为存储坏块；将所述存储坏块添加至垃圾回收队列； 其中，所述针对所述待扫描块中所存储的数据进行第二次扫描得到第二扫描结果之后，所述方法还包括：根据所述第二扫描结果，将所存储的数据存在出错的所述冷数据块确定为所述不稳定块；将根据所述第二扫描结果所确定的所述不稳定块更新至第一状态表，或者，将所述不稳定块添加至垃圾回收队列。

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