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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120213421B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510517741.5，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法是由刘峰;徐亮;张玺斌;李晓辉;赵晋炜;张晓宁设计研发完成，并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法，包括光源生成系统、光源三维调整系统、调整载物台系统、光斑探测器系统和光斑探测三维调整系统；光源生成系统设置在光源三维调整系统上；调整载物台系统设置在光源三维调整系统和光斑探测三维调整系统之间，用于安装被测光学系统以及对被测光学系统进行方位和俯仰角度调整；光斑探测器系统设置在光斑探测三维调整系统上。本发明一种基于星点法的光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法，将被测光学系统入瞳直径转化为同等口径的平行光束，该光束向被测光学系统物方无限传输，可通过探测器方便接收，通过平移台的平移可直接得到被测光学系统的入瞳直径。

本发明授权一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置，其特征在于： 包括光源生成系统Ⅰ、光源三维调整系统Ⅱ、调整载物台系统Ⅲ、光斑探测器系统Ⅳ和光斑探测三维调整系统Ⅴ； 所述光源生成系统Ⅰ设置在光源三维调整系统Ⅱ上；所述调整载物台系统Ⅲ设置在光源三维调整系统Ⅱ和光斑探测三维调整系统Ⅴ之间，用于安装被测光学系统以及对被测光学系统进行方位和俯仰角度调整；所述光斑探测器系统Ⅳ设置在光斑探测三维调整系统Ⅴ上；所述光源三维调整系统Ⅱ、调整载物台系统Ⅲ以及光斑探测三维调整系统Ⅴ用于调整光源生成系统Ⅰ、光斑探测器系统Ⅳ均与被测光学系统位于同一光路上； 所述光源生成系统Ⅰ用于设置在被测光学系统像方焦平面处，光源生成系统Ⅰ发出星点光源并发射至被测光学系统的出射端，光线经被测光学系统后从其入射端射出； 所述光斑探测器系统Ⅳ用于设置在被测光学系统物方，接收从被测光学系统入射端射出的光线，并在其探测面上形成光斑； 通过光源三维调整系统Ⅱ调整星点光源的位置，通过调整载物台系统Ⅲ调整被测光学系统的角度，使出射光斑在被测光学系统物方A平面和B平面的光斑直径和相等，且光斑的中心点位置和均在光轴上，通过光斑探测器系统Ⅳ和光斑探测三维调整系统Ⅴ组合测量，得到被测光学系统入瞳直径。

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