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龙图腾网获悉西安工业大学申请的专利一种横向剪切干涉剪切率选取方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119197379B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411318828.1，技术领域涉及：G01B11/255；该发明授权一种横向剪切干涉剪切率选取方法及装置是由田爱玲;王思淇;刘丙才;朱学亮;刘波;王红军设计研发完成，并于2024-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种横向剪切干涉剪切率选取方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种横向剪切干涉剪切率选取方法及装置，涉及光学测量技术领域。用于解决横向剪切干涉方法在针对多类型非球面面形通用化检测时，随机或无理论参考的剪切率选取而造成的条纹不可解析和检测精度受限的问题。包括：根据初始参考曲面的半径迭代范围，在每个第一迭代步长内，根据初始剪切率的迭代范围依次确认第二迭代步长下，初始剪切率所对应的横向剪切干涉图条纹密度，当多个所述横向剪切干涉图条纹密度中存在一个最大横向剪切干涉图条纹密度小于实际干涉条纹的最大解析阈值时，得到粗优化剪切率、粗优化剪切率第一范围、最佳参考曲面的半径；在每个第三迭代步长下，当确定横向剪切干涉图平均条纹密度小于判断条件时，得到细优化剪切率、细优化剪切率第一范围。

本发明授权一种横向剪切干涉剪切率选取方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种横向剪切干涉剪切率选取方法，其特征在于，包括： 根据待测非球面的口径、待测非球面的顶点曲率半径、二次曲面圆锥系数和非球面波阵面函数将所述待测非球面的顶点曲率半径确定为初始参考曲面的半径； 根据初始参考曲面的半径迭代范围，确定所述初始参考曲面的半径的第一迭代步长，在每个所述第一迭代步长内，根据初始剪切率的迭代范围以及所述初始剪切率的第二迭代步长，依次确认第二迭代步长下，初始剪切率所对应的横向剪切干涉图条纹密度，当多个所述横向剪切干涉图条纹密度中存在一个最大横向剪切干涉图条纹密度小于实际干涉条纹的最大解析阈值时，得到粗优化剪切率以及与所述半径迭代范围相匹配的粗优化剪切率第一范围；根据所述粗优化剪切率第一范围包括的最大粗优化剪切率，得到最佳参考曲面的半径； 根据所述粗优化剪切率第一范围以及粗优化剪切率的第三迭代步长，在每个第三迭代步长下，根据所述粗优化剪切率第一范围和最佳参考曲面的半径依次确定横向剪切干涉图平均条纹密度，当确定所述横向剪切干涉图平均条纹密度小于判断条件时，根据所述横向剪切干涉图平均条纹密度得到细优化剪切率以及与所述粗优化剪切率第一范围相匹配的细优化剪切率第一范围； 所述依次确认第二迭代步长下，初始剪切率所对应的横向剪切干涉图条纹密度，具体包括： 根据所述待测非球面的口径和初始剪切率通过下列公式确定剪切量： S＝Ratio0*Daspheric 根据所述待测非球面、初始参考曲面、所述待测非球面的顶点曲率半径R0和所述剪切量通过下列公式确定横向剪切干涉亮条纹的中心点位置： 根据两个相邻的所述横向剪切干涉亮条纹的中心点位置通过下列公式确定与所述初始参考曲面相匹配的横向剪切干涉图条纹密度： 其中，S表示剪切量，Ratio0表示初始剪切率，Daspheric表示待测非球面的口径，Ti表示横向剪切干涉亮条纹的中心点位置，r0表示初始参考曲面的半径，xdi表示待测非球面的上一点D的横坐标，xci表示初始参考曲面上一点C的横坐标，ydi表示待测非球面上一点D的纵坐标，yci示初始参考曲面上一点C的纵坐标，R0表示待测非球面的顶点曲率半径，k表示二次曲面圆锥系数，λ表示波长，Density表示横向剪切干涉图条纹密度。

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