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龙图腾网获悉广东工业大学申请的专利一种光纤敏感环的温度场下物理对称性测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119290037B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411546750.9，技术领域涉及：G01C25/00；该发明授权一种光纤敏感环的温度场下物理对称性测量方法是由林蹉富;符明烨;张翔;张满堂;杨军;喻张俊;王云才;秦玉文设计研发完成，并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光纤敏感环的温度场下物理对称性测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光纤敏感环的物理对称性测量方法，属于光学测量、光纤传感技术领域。该方法包括：采用保偏OFDR和多参量解耦技术，对光纤环不同温度下的温度变化量和热应变量进行测量；计算温变下的不对称折射率分布，再计算一个层匝单元的相关系数以评价一个单元的物理对称性；累积全单元的相关系数和得到等效相关系数，计算所有温度点的全温等效相关系数分布从而实现物理对称性的评价。本发明可以实现定量的物理对称性评价，结合高空间分辨率的数据，可以深入评价光纤层间和匝间的物理对称性，对光纤环物理对称性故障进行诊断，对于光纤环的缠绕工艺优化、质量评价、成品率提升具有重要作用。

本发明授权一种光纤敏感环的温度场下物理对称性测量方法在权利要求书中公布了：1.一种光纤敏感环在温度场下物理对称性测量方法，所述的测量方法首先需要搭建一套高性能OFDR测试系统，测试光纤敏感环的分布式特征参量，具体包括温度和应变数据，并以此计算折射率变量，随后进行层匝对称性分析；所述的光纤敏感环温度场下对称性测量方法其特征在于，该方法包括以下步骤： 步骤一101：首先需要对进行光纤敏感环测试的温度场进行配置，使其满足本方法中所述的温度场全温测试条件； 步骤二102：使用高性能的光频域反射系统对处于温度场内的光纤敏感环进行分布式特征参量测量； 步骤三103：根据测试需求，筛选出温度场内几个比较具有代表性的特定温度点，进行后续测试； 步骤四104：对高性能光频域反射系统测试得到的分布式特征参量中的温度和应变参量进行多参量同时解耦处理； 步骤五105：由分布式特征参量解调得到光纤敏感环在所施加温度场的温度变化量； 步骤六106：同时对高性能OFDR测试得到的参数解调可得到光纤敏感环在温度场下所产生的热应变量； 步骤七107：通过多参量解耦得到的光纤敏感环分布式温度与应变特征参量数据，计算缠绕体在热应变作用下的不对称折射率αTs，首先计算热应变作用下的折射率变化量αT计算公式为： 其中，n0为标准折射率，p11和p12为光弹系数，εθ为轴向的热应变，nT为光纤的热光系数；光纤敏感环内的顺时针CW入射光在光纤敏感环中s点处受到外界温度扰动，产生了折射率变化，导致正相位差；同样，逆时针CCW入射光在L-s处也会存在折射率变化，但是产生负相位差，因此，对称长度上产生了不同的折射率变化，通过将两种不同方向入射的光分别在点s和点L-s的折射率变化量αT做差，得到了折射率的不对称分布αTs，其中不对称折射率分布αTs的计算公式为： αTss＝αTs,T-αTL-s,T 步骤八108：对待测光纤敏感环在该温度场下进行偏振串扰测试； 步骤九109：通过偏振串扰测试数据换算得到该温度场下光纤敏感环的径向应力，并修正不对称折射率分布αTs结果； 步骤十110：按照所测光纤敏感环每层长度进行数据划分； 步骤十一111：对划分后的光纤敏感环每层数据分别进行层匝在温度场下的对称性分析； 步骤十二112：首先对光纤环进行匝对称性分析，需取对称长度上的一层光纤数据作为一个测试单元； 步骤十三113：随后对光纤环进行层对称性分析，需取对称长度上一个缠绕极子的层数作为一个测试单元； 步骤十四114：将每一个测试单元数据按层匝长度对齐； 步骤十五115：将对齐后的一个单元数据进行相关性分析，得到该测试单元在对称长度上的相关系数分布情况； 步骤十六116：将该测试单元的相关系数沿光纤敏感环长度累积，进行积分求和后得到该测试单元的相关系数沿长度的累积分布情况； 步骤十七117：判断在该温度点下是否已完成该光纤敏感环上所有测试单元的相关系数计算，若未完成则执行步骤十八118，若已完成该光纤环上所有测试单元的相关系数运算则执行步骤十九119； 步骤十八118：若未完成所测光纤环上所有测试单元的相关性分析，则在完成上一测试单元的相关系数沿长度累积分布计算后，转至下一测试单元继续执行步骤十一111至步骤十六116的相关操作； 步骤十九119：完成所有测试单元相关性分析计算后，累积光纤敏感环上所有测试单元的相关系数； 步骤二十120：得到所测光纤敏感环在该温度点下的等效相关系数； 步骤二十一121：判断本次运算是否为所设温度场全温测试条件下的最后一个温度点，若不是全温测试条件中最后一个温度点则执行步骤二十二122相关操作，若本次运算为全温测试条件下最后一个温度点，则执行步骤二十三123相关操作； 步骤二十二122：若本次测试不是全温测试条件中最后一个温度点，则切换温度场的下一个温度点，并重复步骤四104至步骤二十120的相关操作； 步骤二十三123：若已完成全温测试条件下所设温度点的全部测试，即可得到全温等效相关系数分布结果； 步骤二十四124：对该光纤敏感环在温度场激发下的全温等效相关系数进行异常值分析； 步骤二十五125：计算该光纤敏感环的全温等效相关系数标准差； 最终得到整体光纤敏感环在温度场下的物理对称性分析结果。

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