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龙图腾网获悉中会光电(深圳)有限公司申请的专利二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120543502B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510625885.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法是由张明;陈群;张伟设计研发完成，并于2025-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法，具体涉及缺陷识别技术领域；通过多角度X射线成像与基于结构相似性的图像融合，有效抑制初始伪影干扰；结合区域自适应的金属伪影识别与修复模型，进一步补偿结构信息；并引入具备金属区域注意力机制的深度卷积神经网络模型，强化复杂纹理区域的特征感知能力，该方法能够显著提升金属边界区域微小缺陷的识别准确性，降低漏检与误判率。

本发明授权二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法在权利要求书中公布了：1.二极管封装缺陷X光图像自动判读方法，其特征在于：包括： 获取目标二极管的多角度X射线投影图像，其中各角度以预设旋转角度对二极管进行X射线照射； 对所获取的多角度图像进行配准与图像融合，采用基于结构相似性权重的图像融合算法，生成伪影抑制图像； 针对融合图像中残留的金属伪影区域，基于区域自适应金属识别模块进行定位，并利用训练后的金属伪影修复模型进行结构补偿与细节重建； 将伪影修复后的图像输入深度卷积神经网络模型，所述模型包含金属区域注意力机制模块，用于动态增强图像中金属边界及复杂纹理区域的特征权重； 输出判读结果，包括缺陷类型、缺陷位置及其置信度评分；其中，所述基于区域自适应金属识别模块进行定位的具体步骤包括：将输入图像归一化至[0,1]区间，使用拉普拉斯算子增强图像细节与边界，对图像细节与边界进行大于阈值的二值化处理得到初步伪影候选区域；在候选区域内以固定大小滑动提取图像块，对每个图像块提取纹理特征，所述纹理特征包括Gabor滤波响应能量和灰度共生矩阵方向对比度；所述Gabor滤波响应能量的提取方式为：在0°和135°方向上分别构造Gabor核，将图像块与两个方向的Gabor核卷积，计算响应图；分别统计每个方向响应图的能量，即计算平方和，作为Gabor滤波响应能量；所述灰度共生矩阵方向对比度的提取方式为：构建图像块的GLCM矩阵，方向选45°和135°，距离d=1；分别计算两个方向下的灰度共生矩阵方向对比度值；将每个窗口的Gabor滤波响应能量和灰度共生矩阵方向对比度拼接成统一向量，逐个送入训练好的LightGBM模型进行分类预测，将所有预测为伪影的窗口位置打上标记，生成与图像尺寸一致的二值图Mx,y。

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