杭州国磊半导体设备有限公司张九六获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州国磊半导体设备有限公司申请的专利一种零内存长时间测量平均值的测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120631798B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510753508.7，技术领域涉及：G06F12/06；该发明授权一种零内存长时间测量平均值的测量方法及系统是由张九六;李善红设计研发完成，并于2025-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种零内存长时间测量平均值的测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种零内存长时间测量平均值的测量方法及系统，属于数据处理技术领域，该方法包括：实时采集测量信号的测量值；根据测量值和迭代算法动态更新测量的平均值；确定当前测量次数，并判断当前测量次数是否超过处理器数值上限，在确定当前测量次数超过处理器数值上限的情况下，执行测量长度的溢出处理。该方法无需保存所有的采样点，可以不需要有内存，采样的同时即时计算平均值，不需要内存，减少了成本，以及提高了测量信号的速度和效率。
本发明授权一种零内存长时间测量平均值的测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种长时间测量平均值的测量方法，其特征在于，所述方法包括： S1，实时采集测量信号的测量值，其中，基于半导体设备或物联网传感器采集所述测量信号的测量值； S2，根据所述测量值和迭代算法动态更新测量的平均值； S3，确定当前测量次数，并判断所述当前测量次数是否超过处理器数值上限，在确定所述当前测量次数超过处理器数值上限的情况下，执行测量长度的溢出处理； 其中，根据所述测量值和迭代算法动态更新测量的平均值，包括：，其中，表示平均值，表示第n-1次的平均值，表示测量值，n表示当前测量次数，n≥1；其中，仅需存储当前所述平均值和当前所述测量次数n，无需保存历史数据； 其中，在确定所述当前测量次数超过处理器数值上限的情况下，执行测量长度的溢出处理，包括： 在确定所述当前测量次数超过处理器数值上限的情况下，将当前测量次数n分解为n=k·N+i，其中，k表示累计溢出次数，i表示当前周期内的余数，0＜i≤N，N表示处理器数值上限； 根据，计算增量项，其中，。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州国磊半导体设备有限公司，其通讯地址为：311121 浙江省杭州市余杭区仓前街道向往街1008号14幢6层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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