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深圳市正天伟科技有限公司张本汉获国家专利权

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龙图腾网获悉深圳市正天伟科技有限公司申请的专利基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120807502B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511292889.X,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法及系统是由张本汉;王颖;张文彬;张元正设计研发完成,并于2025-09-11向国家知识产权局提交的专利申请。

基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明属于瑕疵检测技术领域,本发明公开了基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法及系统,包括:获取待检测印刷电路板的设计文件和表面图像;并对其进行层级解析,得到多个层级信息,并对多个层级信息进行对齐处理,得到标准化层级数据;基于标准化层级数据进行特征增强,将增强之后的层级数据进行融合,并基于其构建动态检测模板;对所采集的表面图像进行图像预处理,并结合动态检测模板对图像预处理后的表面图像进行非线性配准,获得相应的配准图像;对所获得的配准图像进行处理得到瑕疵检测与分类结果;本发明通过精确地建立局部形变模型和特征点关联矩阵,保证非线性配准的准确性,有效解决印刷电路板检测中因形变导致的误检问题。

本发明授权基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法及系统在权利要求书中公布了:1.基于动态模板的印刷电路板表面瑕疵智能检测方法,其特征在于,包括: 步骤S1:获取待检测印刷电路板的设计文件和表面图像,所述设计文件包含印刷电路板内的多层理论结构信息; 步骤S2:对所获取的设计文件进行层级解析,得到多个层级信息,对多个层级信息分别配置对应的层级矩阵,层级矩阵包括多个特征位面; 制定层级对齐参考点,层级对齐参考点包括多个预设的特征基准,按照层级对齐参考点对层级信息进行特征提取,得到对应多个预设的特征基准的特征向量; 将多个特征向量按照所在的层级类型的优先级顺次一对一置于层级矩阵上,层级矩阵是顺次设置的; 在层级矩阵的多个特征位面上设置对应的特征向量的偏移范围,将处于偏移范围内的特征向量进行提取分层并置于多个特征位面上,在特征位面上对特征向量的偏移量进行标记,其中,多个特征位面上设置有多个校准点,通过校准点记载特征向量的偏移量以及对应的方向,得到标准化层级数据; 步骤S3:基于标准化层级数据进行特征增强,将增强之后的层级数据进行融合,并基于其构建动态检测模板; 动态检测模板的构建过程包括: 对多个层级信息分别制定对应的增强规则;基于增强规则对标准化层级数据中的校准点进行调控,通过按照校准点中所记载特征向量的偏移量以及方向,得到特征向量对应的偏差范围以及存在的特征增强差异值作为调整基数,并根据调整基数匹配对应的增强规则; 按照匹配的增强规则对标准化层级数据中的校准点进行偏移模拟调控,将校准点模拟调控的偏移负载于标准化层级数据,得到调控之后的层级数据; 制定预设条件,预设条件为调控之后的层级数据与标准化层级数据之间轮廓重合的差异范围满足预设差异阈值; 将符合预设条件的调控之后的层级数据作为模拟层级数据,将模拟层级数据中校准点对应的偏移量和方向赋予相应特征位面上的特征向量,得到目标层级数据; 将多个目标层级数据进行重合得到目标层级信息,将多个目标层级信息之间按照在印刷电路板设计文件中的位置关系进行对应融合,并基于其构建动态检测模板; 步骤S4:对所采集的表面图像进行图像预处理,并结合动态检测模板对图像预处理后的表面图像进行非线性配准,获得相应的配准图像; 步骤S5:对所获得的配准图像进行处理得到瑕疵检测与分类结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市正天伟科技有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市宝安区沙井街道沙四社区沙四高新科技园C栋一层二层三层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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