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龙图腾网获悉润新微电子(大连)有限公司申请的专利动态导通电阻测试平台和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121027620B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511576638.4，技术领域涉及：G01R27/08；该发明授权动态导通电阻测试平台和方法是由任永硕;熊华燕;王荣华;梁辉南;张奇设计研发完成，并于2025-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本动态导通电阻测试平台和方法在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体开关器件测试领域，提供一种动态导通电阻测试平台和方法。动态导通电阻测试平台包括：动态测试电路和控制装置。动态测试电路包括与半导体开关器件串联构成环路的高压源表和限流单元，以及钳位电路、电流电压抓取装置和驱动电路。控制装置内设置控制程序，控制动态测试电路进行电流校准和电压校准并分别获得电流修正系数和电压修正系数、控制动态测试电路进行动态导通电阻测试并获得测试数据，还利用测试数据以及电流修正系数、电压修正系数获得半导体开关器件对应的修正后的动态电阻值。动态导通电阻测试方法基于上述动态导通电阻测试平台对半导体开关器件进行动态导通电阻测试。本发明能提高动态导通电阻测试的精度。

本发明授权动态导通电阻测试平台和方法在权利要求书中公布了：1.一种动态导通电阻测试平台，对半导体开关器件进行动态导通电阻测试，其特征在于：所述动态导通电阻测试平台包括： 动态测试电路，所述动态测试电路包括高压源表、限流单元、钳位电路、电流电压抓取装置和驱动电路；所述高压源表、所述限流单元和所述半导体开关器件串联构成环路，所述钳位电路与所述半导体开关器件并联并具有引出输出端，所述电流电压抓取装置与所述钳位电路的引出输出端相连接，所述驱动电路与所述半导体开关器件的栅极相连接；所述限流单元包括限流电阻或者并联的电感和二极管；所述动态测试电路还包括开关，所述开关与所述限流单元并联； 控制装置，所述控制装置内设置有控制程序，所述控制装置控制所述动态测试电路进行电流校准和电压校准并分别获得电流修正系数和电压修正系数、控制所述动态测试电路对所述半导体开关器件进行动态导通电阻测试并获得测试数据，所述控制装置还利用所述测试数据以及所述电流修正系数、所述电压修正系数获得所述半导体开关器件对应的修正后的动态电阻值； 利用所述动态导通电阻测试平台对半导体开关器件进行动态导通电阻测试的动态导通电阻测试方法包括以下步骤： 步骤1：预设进行动态导通电阻测试所需的各项参数； 步骤2：对所述动态测试电路进行电流校准和电压校准，并分别获得电流修正系数和电压修正系数； 步骤3：利用所述动态测试电路对所述半导体开关器件进行动态导通电阻测试并获得测试数据； 步骤4：利用所述测试数据以及所述电流修正系数、所述电压修正系数获得所述半导体开关器件对应的修正后的动态电阻值； 所述步骤2中，当所述限流单元包括限流电阻时，进行电流校准的方法为：控制所述半导体开关器件打开，利用所述高压源表测试所述环路的电阻值，计算所述电流修正系数=所述限流电阻的阻值所述环路的电阻值； 所述步骤2中，当所述限流单元包括并联的电感和二极管时，进行电流校准的方法为：控制所述半导体开关器件打开，控制所述高压源表输出一个或多个电流信号，所述高压源表所输出的电流信号的电流值在设定的电流范围内；当控制所述高压源表输出一个所述电流信号时，利用所述电流电压抓取装置抓取对应的一个检测点电流值，计算所述电流修正系数=所述检测点电流值所述电流信号的电流值；当控制所述高压源表输出多个所述电流信号时，利用所述电流电压抓取装置分别抓取对应的多个检测点电流值，则利用所述检测点电流值与所述电流信号的电流值进行线性拟合得到所述电流修正系数； 所述步骤2中，进行电压校准的方法为：控制所述半导体开关器件关断，短路所述限流单元，控制所述高压源表输出一个或多个电压信号，所述高压源表所输出的电压信号的电压值在所述电压校准所需电压上限值和所述电压校准所需电压下限值所限定的电压范围内；当控制所述高压源表输出一个所述电压信号时，利用所述电流电压抓取装置抓取对应的一个检测点电压值，计算所述电压修正系数=所述电压信号的电压值所述检测点电压值；当控制所述高压源表输出多个所述电压信号时，利用所述电流电压抓取装置分别抓取对应的多个检测点电压值，则利用所述电压信号的电压值与对应所述检测点电压值进行线性拟合得到所述电压修正系数； 所述步骤4中，先计算所述半导体开关器件的动态电阻初始值=所述测试电压值所述半导体开关器件动态导通时电流值，所述半导体开关器件动态导通时电流值≈动态电阻的测试高电压值所述限流电阻的阻值或者所述半导体开关器件动态导通时电流值≈动态电阻的测试高电压值所述限流单元的等效阻值；所述电压修正系数包括电压修正斜率系数，或者所述电压修正系数包括电压修正斜率系数和电压修正截距系数；再计算所述半导体开关器件对应的修正后的动态电阻值=所述半导体开关器件的动态电阻初始值*所述电流修正系数*所述电压修正斜率系数，或者所述半导体开关器件对应的修正后的动态电阻值=所述半导体开关器件的动态电阻初始值*所述电流修正系数*所述电压修正斜率系数+所述电压修正截距系数。

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