中国科学院近代物理研究所刘晔获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121167139B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511708090.4，技术领域涉及：G06F18/15；该发明授权一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法及系统是由刘晔;封安辉;杨建成;张帅;王鹏基;尹永常设计研发完成，并于2025-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法及系统，应用于电磁兼容检测技术领域，获取待重构的非均匀采样的频谱数据，所述频谱数据包含多个具有频率和幅度的原始采样点；根据所述原始采样点的最低频率和最高频率，将整个频谱范围划分为一个主体频率区间和位于该主体频率区间两端的两个边界区域；采用线性插值算法，对所述主体频率区间进行数据重构；采用对数函数拟合方法，对所述两个边界区域进行数据补偿。本发明结合线性插值和对数拟合，有效解决了非均匀采样数据在边界区域的边缘效应问题，提高了整体插值精度。
本发明授权一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于非均匀采样数据频谱重构的插值方法，其特征在于，包括： 获取待重构的非均匀采样的频谱数据，所述频谱数据包含多个具有频率和幅度的原始采样点；所述待重构的非均匀采样的频谱数据来源于电磁兼容检测中，因采用不同的中频带宽扫描而获得的测量路径损耗数据； 根据所述原始采样点的最低频率和最高频率，将整个频谱范围划分为一个主体频率区间和位于该主体频率区间两端的两个边界区域； 采用线性插值算法，对所述主体频率区间进行数据重构； 采用对数函数拟合方法，对所述两个边界区域进行数据补偿； 在采用线性插值算法，对所述主体频率区间进行数据重构之前，所述方法还包括： 根据所述主体频率区间内相邻原始采样点之间的幅度变化趋势，自适应地调整插值节点的密度。
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