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龙图腾网获悉深圳北理莫斯科大学申请的专利变形测量方法、装置和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121409130B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511983872.9，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权变形测量方法、装置和电子设备是由胡文欣;刘硕;胡希平;吴奇露;郑建波设计研发完成，并于2025-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本变形测量方法、装置和电子设备在说明书摘要公布了：本申请涉及变形监测技术领域，尤其涉及一种变形测量方法、装置和电子设备，方法分多个测量阶段执行，每个测量阶段中包括多个子状态，方法通过多个测量阶段的迭代监测，其中，每个测量阶段的步骤流程包括：控制光电快门切换至第一测量模式，获取DIC初始基准图像；控制光电快门切换至第二测量模式，在每个测量阶段的多个子状态下执行相移操作，采集各子状态对应的电子散斑干涉条纹图；在测量阶段的末尾子状态，控制光电快门切换回第一测量模式，采集末尾子状态对应的DIC图像，作为下一个测量节点的初始基准图像；分别对干涉条纹图和DIC图像进行处理，得到对应的处理结果。由此，能够实现大量程亚微米级变形动态监测。

本发明授权变形测量方法、装置和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种变形测量方法，其特征在于，所述方法分多个测量阶段执行，每个所述测量阶段中包括多个子状态，所述方法通过多个测量阶段的迭代监测，得到待测物体从初始状态到最终状态的全流程变形监测结果， 其中，每个测量阶段的步骤流程包括： 控制光电快门切换至第一测量模式，获取符合数字图像相关技术DIC计算要求的初始基准图像； 控制所述光电快门切换至第二测量模式，在每个所述测量阶段的多个子状态下执行相移操作，采集各所述子状态对应的电子散斑干涉条纹图； 在所述测量阶段的末尾子状态，控制所述光电快门切换回所述第一测量模式，采集所述末尾子状态对应的DIC图像，作为下一个测量节点的初始基准图像； 分别对所述电子散斑干涉条纹图和所述DIC图像进行处理，得到对应的处理结果； 所述分别对所述电子散斑干涉条纹图和所述DIC图像进行处理，得到对应的处理结果，包括： 采用四步相移算法，对同一子状态下采集的四幅电子散斑干涉条纹图进行运算，得到包裹相位数据； 对所述包裹相位数据执行相位解包裹处理，得到连续相位数据； 对所述连续相位数据对应的电子散斑干涉条纹图进行相减运算，生成相减条纹图； 基于所述连续相位数据，对对应的子状态的电子散斑干涉条纹图执行相减运算，生成反映变形差异的相减条纹图； 以所述连续相位数据为基础，计算当前子状态对应的变形量数据，得到所述测量阶段内每个子状态对应的变形量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳北理莫斯科大学，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道大运新城国际大学园路1号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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