欣强电子(清远)股份有限公司陈廷魁获国家专利权
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龙图腾网获悉欣强电子(清远)股份有限公司申请的专利基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121454151B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610007289.2,技术领域涉及:G01R27/02;该发明授权基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法是由陈廷魁设计研发完成,并于2026-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法,涉及PCB阻抗均匀性测试领域,包括:本发明利用TDR设备获取PCB板面测试点的阻抗值与坐标信息,并将各测试点坐标信息与其阻抗值关联映射,通过插值生成阻抗空间分布热力图;在阻抗空间分布热力图中进行异常点识别并标记标记,根据被标记的异常点的空间分布特征,及其显著峰值区间判定阻抗异常类型为蚀刻异常或非蚀刻异常;通过将线宽分布图与阻抗热力图进行空间比对,生成反映二者偏差对应关系的联合偏差数据集合,并据此计算待补偿区域基准调整量,以生成工艺补偿指令,实现了阻抗分布的可视化、异常类型诊断与工艺参数闭环补偿,提升了PCB阻抗均匀性分析的效率。
本发明授权基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法在权利要求书中公布了:1.基于可视化的PCB阻抗均匀性测试分析方法,其特征在于:包括: 利用TDR设备扫描PCB板面上测试点阻抗数据及其坐标信息; 将各测试点的坐标信息与对应的阻抗值进行关联映射,通过插值生成阻抗空间分布热力图,在阻抗空间分布热力图中,将超出预设阻抗公差带的异常点进行标记; 将各测试点的阻抗值与对应位置坐标进行关联存储;将各测试点的位置坐标统一至PCB设计图坐标系,在PCB板面轮廓边界区域内创建网格点阵;以当前网格点为中心,在搜索半径内筛选与该网格点的欧氏距离小于等于搜索半径的测试点,作为邻近已知点;计算各邻近已知点之间的距离值及其对应阻抗值差,将距离值划分区间,并计算每个距离区间内阻抗值差平方的平均值的一半,作为距离区间的半方差值;对距离区间与对应半方差值进行曲线拟合,得到阻抗值差异随距离变化的依赖关系;根据依赖关系为各邻近已知点分配贡献权重,将每个邻近已知点的阻抗值与对应的贡献权重相乘后求和,作为当前网格点的阻抗值;对各网格点阻抗值分配对应颜色,生成阻抗空间分布热力图; 识别被标记的异常点的空间分布特征,根据空间分布特征判定阻抗异常类型,若被标记的异常点集中分布于PCB板面的边缘区域或中心区域,则判定为蚀刻异常; 从阻抗空间分布热力图中识别所有异常点的连通区域,将其定义为异常区域;计算各异常区域边界坐标平均值,得到其几何质心坐标,计算各异常区域质心与板面几何中心的欧氏距离,形成异常区域距离数据集;将板面几何中心到面板轮廓最远距离的范围划分为若干个等间距区间,遍历异常区域距离数据集,统计各等间距区间内包含的异常区域数量,作为该区间的频数,并计算所有等间距区间的平均频数;逐一计算各等间距区间的频数与平均频数的比值,将该比值大于显著性阈值的等间距区间识别为显著峰值区间;基于PCB板设计信息定义板面的边缘区域与中心区域;若显著峰值区间落入边缘区域或中心区域,则判定异常点集中分布于相应区域,并判定阻抗异常类型为蚀刻异常; 若被标记的异常点在板面上呈随机分布状态,则判定为非蚀刻异常; 若判定为蚀刻异常,则获取PCB板面的线宽分布图,将线宽分布图与阻抗空间分布热力图进行空间比对,并依据比对结果调整蚀刻工艺的补偿参数; 若判定为非蚀刻异常,则检测PCB板的介质层厚度波动幅度,根据介质层厚度波动幅度判断异常类型。
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