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龙图腾网获悉山东大学申请的专利一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121633756B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610162217.5，技术领域涉及：G01R31/12；该发明授权一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统是由何东欣;李和兴;李清泉;刘洪顺;任富强;张聪;郑晓彬设计研发完成，并于2026-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统在说明书摘要公布了：本发明涉及电气设备绝缘状态检测技术领域，具体为一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统，所述方法包括向待测绝缘封装材料试样施加周期性高压方波脉冲电压，检测待测绝缘封装材料受瞬态电场力激发的分子振动声波信号，捕获脉冲边沿后特定采集窗口内的瞬态分子振动波形，对采集到的瞬态分子振动波形进行多维度特征提取，将提取的瞬态分子振动波形的多维度特征，输入至预先构建的评估模型或与预设阈值进行比较，输出待测绝缘封装材料当前劣化程度或劣化评估结果。通过多维度特征提取振动波形的时域幅值、波形形态、弛豫时间、小波包熵，采用力学破坏与能量解离双重判据实现了绝缘封装材料的劣化程度评估。

本发明授权一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法，其特征在于，包括： S1、向待测绝缘封装材料施加模拟高压功率器件实际运行工况下的周期性高压方波脉冲电压，并生成一路与所述周期性高压方波脉冲电压上升沿或下降沿精准同步的触发信号； S2、基于高压方波脉冲电压的边沿作用，通过传感器检测待测绝缘封装材料受瞬态电场力驱动试样内部电荷而激发的分子振动声波信号，并将分子振动声波信号转换为电信号； S3、基于同步触发信号，对转换后的电信号进行同步采集，捕获脉冲边沿后特定采集窗口内的瞬态分子振动波形； S4、对采集到的瞬态分子振动波形进行多维度特征提取，获取振动波形的时域幅值特征、波形形态特征、弛豫时间特征常数及小波包熵； 获取振动波形的小波包熵的具体方法为： 对脉冲边沿时刻后采集窗口的分子振动原始信号进行预处理，对预处理后的振动信号进行N层小波包分解，得到2N个频带的小波包分解系数，其中N为不小于3的整数； 分别计算每个频带分解系数的能量Ei，i=1,2,…,2N，并计算信号总能量； 基于信号总能量计算每个频带的能量概率分布； 根据信息熵公式计算小波包熵，所述信息熵公式为： ； S5、将提取的瞬态分子振动波形的多维度特征，输入至预先构建的评估模型或与预设阈值进行比较，输出待测绝缘封装材料当前劣化程度或劣化趋势的定性判断、或劣化评估结果； 所述评估模型采用绝缘健康指数IHI，其公式为： 式中，w1、w2、w3分别表示权重系数；Anorm表示等效幅值；τ为弛豫时间特征常数；Sw为小波包熵。

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