中国人民解放军国防科技大学潘正强获国家专利权
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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115983023B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310034776.4,技术领域涉及:G06F30/20;该发明授权基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置是由潘正强;刘天宇;程志君;易泰河;贾祥;宋国鹏;范俊设计研发完成,并于2023-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置在说明书摘要公布了:本申请涉及一种基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置。所述方法包括:通过对获取的初始试验数据中的性能指标数据和试验因子进行电磁效应机理分析,构建导引头抗干扰响应模型,并根据导引头抗干扰响应模型和试验样本选取目标构建试验样本选取优化模型,并根据试验样本选取优化模型采用最优试验方案构造算法对预先构建的初始试验样本进行优化,得到最终的试验样本集。采用本方法能够在考虑导引头抗干扰电磁效应机理的前提下,构建导引头抗干扰响应模型进行试验样本的优化选取,更贴近导引头抗干扰工程背景,具有更好的可解释性,可以获得更有效的试验样本集,为导引头抗干扰性能边界的评估提供坚实的基础。
本发明授权基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置在权利要求书中公布了:1.一种基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法,其特征在于,所述方法包括: 获取导引头抗干扰初始试验方案的历史数据,并通过数字仿真系统或半实物仿真系统结合所述历史数据对所述导引头抗干扰初始试验方案进行仿真试验,获取初始试验数据;其中,所述初始试验数据包括导引头抗干扰的性能指标数据和影响导引头抗干扰的试验因子; 计算所述性能指标数据与试验因子之间的电磁效应机理关系,当所述电磁效应机理关系超过设定阈值时,根据电磁效应机理计算所述性能指标数据与所述试验因子之间的关系式,并将所述关系式作为元模型构建导引头抗干扰响应模型;当所述电磁效应机理关系低于设定阈值时,根据所述初始试验数据的保真度构建代理模型,并将所述代理模型作为导引头抗干扰响应模型; 根据所述导引头抗干扰响应模型和试验样本选取目标构建试验样本选取优化模型,并根据所述试验样本选取优化模型采用最优试验方案构造算法对预先构建的初始试验样本进行优化,得到最终的试验样本集; 根据所述初始试验数据的保真度构建代理模型,并将所述代理模型作为导引头抗干扰响应模型,包括: 当所有初始试验数据属于单一保真度时,构建单保真度代理模型并将所述单保真度代理模型作为导引头抗干扰响应模型; 当所有初始试验数据属于不同保真度时,根据保真度信息构建不同的保真度代理模型,并通过修正函数对不同的保真度代理模型进行融合,融合得到多保真度代理模型,并将所述多保真度代理模型作为导引头抗干扰响应模型; 所述单保真度代理模型包括单一代理模型和组合代理模型,所述单一代理模型包括多项式回归模型、高斯过程模型、径向基函数模型以及支持向量回归模型,所述组合代理模型通过对多个单一代理模型进行加权叠加得到,所述单一代理模型的加权系数包括平均权重和自适应权重。
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