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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司申请的专利确定图像显示异常原因的方法、验证测试平台及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116008300B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111230743.4，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权确定图像显示异常原因的方法、验证测试平台及存储介质是由辛佳佳;朴钦浩;孟晨;刘宪涛;郑骁;刘国;钟文杰;付波;王永辉设计研发完成，并于2021-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本确定图像显示异常原因的方法、验证测试平台及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了确定图像显示异常原因的方法、验证测试平台及存储介质，用以解决现有技术中存在的不能快速确定平板探测器中图像显示异常原因的技术问题，该方法包括：在平板探测器面板生成检测图像数据期间，采集所述平板探测器的第一关键参数和验证测试平台的图像传输部分的第二关键参数；当所述检测图像数据对应的图像显示异常时，根据所述第一关键参数和所述第二关键参数是否在各自对应的正常范围内，确定引起所述图像显示异常的原因。

本发明授权确定图像显示异常原因的方法、验证测试平台及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种确定图像显示异常原因的方法，应用于验证测试平板探测器面板的验证测试平台，所述平板探测器面板采集的检测图像数据通过所述验证测试平台的图像传输部分传输，其特征在于，包括： 在所述平板探测器面板生成检测图像数据期间，从所述平板探测器面板中采集每个读取芯片的相关参数，以及所述检测图像数据对应的X射线的曝光参数；将所述相关参数和所述曝光参数确定为所述平板探测器面板的第一关键参数；采集所述验证测试平台的图像传输部分的工作状态，获得所述图像传输部分的第二关键参数； 当所述检测图像数据对应的图像显示异常时，判断所述第一关键参数中每个参数是否在对应的正常范围内； 若所述第一关键参数中任一个参数不在对应的正常范围内，则确定引起所述图像显示异常的原因包括所述平板探测器面板故障； 判断所述第二关键参数是否与预设工作状态一致； 若所述第二关键参数与预设工作状态不一致时，则确定引起所述图像异常的原因包括所述验证测试平台的程序异常； 其中，所述相关参数，包括： 所述读取芯片的实际工作电压、所述读取芯片的实际工作电流，以及所述读取芯片的实际工作温度； 其中，判断所述第一关键参数中每个参数是否在对应的正常范围内，包括： 当所述第一关键参数中的参数为所述读取芯片的相关参数时，判断所述实际工作电压是否大于所述读取芯片的额定电压的最大值、所述实际工作电流是否大于所述读取芯片的额定电流的最大值、所述实际工作温度是否大于所述读取芯片的最大工作温度； 若所述实际工作电压大于所述额定电流的最大值，则确定所述读取芯片短路，所述平板探测器面板故障包括所述平板探测器面板中覆晶薄膜连接异常； 若所述实际工作电压大于所述额定电流的最大值，则确定所述读取芯片短路，所述平板探测器面板故障包括所述平板探测器面板中读取芯片对应的引脚绑定区异常； 若所述实际工作温度大于所述最大工作温度，则确定所述读取芯片的工作模式异常。

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