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龙图腾网获悉华东师范大学申请的专利一种免触式芯片检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116577631B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310252217.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种免触式芯片检测系统是由周家珅;谢祖炜;杨琦;刘一清设计研发完成，并于2023-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种免触式芯片检测系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种免触式芯片检测系统，该平台包括PC机、数据解析转发模块、源信号激励模块、选通阵列及待测芯片槽。该平台可以通过PC机的可视化界面实现一次性多项选择，完成芯片任意管脚间阻值、任意管脚间容值、任意管脚间封装完整性、任意管脚电压和芯片整体功耗的自动一体化测试。与传统机械探针点触式的检测系统相比，本发明的体积更为小巧；同时采用了可自动选通的物理通路切换方式，与传统方式相比具有更高的切换速率，可实现更高效率的封装测试。

本发明授权一种免触式芯片检测系统在权利要求书中公布了：1.一种免触式芯片检测系统，其特征在于，该系统包括PC机1、数据解析转发模块2、源信号激励模块3、选通阵列4、信号源仲裁模块5及待测芯片槽6，所述PC机1与数据解析转发模块2连接，通过流式指令转换算法将PC机1的输入操作转换为向数据解析转发模块2发送的对应测试指令； 所述数据解析转发模块2与PC机1、源信号激励模块3及选通阵列4连接，根据PC机1接收的指令激活选通阵列4中与待测芯片管脚对应的物理通路和功能模块，并向源信号激励模块3申请用以测试的信号源，同时将测试结果的值进行校正后上报至PC机1； 所述源信号激励模块3与信号源仲裁模块5连接，用以将测试所用的信号量引导至信号源仲裁模块5的指定测试位置； 所述选通阵列4与数据解析转发模块2及待测芯片槽6连接，用以为待测芯片槽6提供并保持测试的物理通路，同时将测试结果的值上传至数据解析转发模块2； 所述信号源仲裁模块5与源信号激励模块3及选通阵列4连接，用以接收来自源信号激励模块3生成的信号，并根据信号源混合算法为选通阵列4的指定位置输出激励信号； 所述待测芯片槽6与选通阵列4相连，用以装卸待测封装的芯片，使其与选通阵列4中的电路接通；其中： 所述源信号激励模块3包括反馈调节电路31、可调补偿电压源32、抗温漂电压源33、振荡控制器34及高谐次压控温补振荡器35； 所述反馈调节电路31与控制调度模块23、可调补偿电压源32连接，当控制调度模块23告知测试项目为指定管脚间阻值测试、指定管脚间容值测试或指定管脚间封装完整性测试时，根据测试信息内容将可调补偿电压源32调整至指定电压值，并时刻接受来自可调补偿电压源32的反馈信号，使可调补偿电压源32的输出保持动态稳定； 所示可调补偿电压源32与反馈调节电路31及信号源仲裁模块5连接，根据预设的可选值和自反馈调节电路31的信号调节当前电压源输出的电压值，并向反馈调节电路31发送当前电压源的反馈信息，以保持输出的动态稳定，使输出具有更强的抗干扰性；同时将输出的电压信号送至信号源仲裁模块5用以仲裁激励源； 所述抗温漂电压源33与控制调度模块23、信号源仲裁模块5连接，当控制调度模块23告知测试项目为指定管脚间封装完整性测试、指定管脚逻辑电压测试或芯片功耗测试时，根据测试信息内容将精密恒压电压输出接至信号源仲裁模块5用以仲裁激励源； 所述振荡控制器34与控制调度模块23、高谐次压控温补振荡器35连接，当控制调度模块23告知测试项目为指定管脚间阻值测试或指定管脚间容值测试时，根据测试信息内容将高谐次压控温补振荡器35调整至指定频率的输出波形； 所示高谐次压控温补振荡器35与振荡控制器34及信号源仲裁模块5连接，根据自振荡控制器34的信号调节当前电压源输出高频稳定的、可抗长时间工作导致温度偏差干扰的多类波形信号，并将输出的电压信号送至信号源仲裁模块5用以仲裁激励源。

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