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龙图腾网获悉成都理工大学;成都奥伦达科技有限公司申请的专利一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116630800B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310566328.9，技术领域涉及：G06V20/10；该发明授权一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法及系统是由谭骏祥;唐杰;曾志鹏;李欣然;张涛;赵浩杰;刘健飞设计研发完成，并于2023-05-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及电力巡检技术领域，公开了一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法及系统，其方法包括以下步骤：步骤1：基于基础点云数据，进行特征提取，并提取得到电塔塔头点云；步骤2：基于电塔塔头点云，计算其在不同尺度下的不同几何特征；所述尺度包含每个点的最佳邻域和自定义邻域；所述几何特征包括绝缘子的特征值特征、密度特征和投影特征；量化不同几何特征对于提取绝缘子的贡献程度，并获取各几何特征的权重，对各几何特征进行加权融合，进而得到绝缘子的综合评价得分；步骤3：基于绝缘子的综合评价得分，提取完整的绝缘子串点云。本发明所提供的方案具备广泛适用性，能够从复杂场景中精确提取不同类型的绝缘子点云，提取精确度较高。

本发明授权一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种多尺度特征量化的绝缘子自动提取方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：基于基础点云数据，进行特征提取，并提取得到电塔塔头点云； 步骤2：基于电塔塔头点云，计算其在不同尺度下的不同几何特征；所述尺度包含每个点的最佳邻域和自定义邻域；所述几何特征包括绝缘子的特征值特征、密度特征和投影特征；所述绝缘子包括耐张绝缘子和悬垂绝缘子；特征值特征包括最小特征值ME、平面度PL、线性度LI、表面变化SV、PCA1、PCA2和垂直度VE；密度特征包括点密度PD；投影特征包括宽度WI和长宽之和LS； 根据特征信息熵量化不同几何特征对于提取绝缘子的贡献程度，并获取各几何特征的权重，对各几何特征进行加权融合，进而得到绝缘子的综合评价得分，包括以下子步骤： S1：对各几何特征进行归一化处理；构建特征值矩阵；当绝缘子为耐张绝缘子时，其正向特征包括PCA1和线性度；其负向特征包括最小特征值、平面度、PCA2和表面变化；当绝缘子为悬垂绝缘子时，其正向特征包括垂直度；其负向特征包括PCA2和长宽之和； S2：进行权重计算；且计算式如下： ； 其中，表示第i个几何特征的权重；表示第i个几何特征的信息熵；，表示特征集合；表示第i点的特征归一化值；m表示特征集合中几何特征的个数；n表示特征值的个数；且信息熵； 将负向特征的归一化符号定义为-，将正向特征的归一化符号定义为+，则绝缘子的综合评价得分，按照下式进行计算： ； 其中，表示耐张绝缘子的综合评价得分；表示悬垂绝缘子的综合评价得分；w表示几何特征的权重；表示最小特征熵对应的最佳邻域尺度；0.8m、1.3m、1.5m和1.8m均指自定义邻域点云的自定义邻域半径； 步骤3：基于绝缘子的综合评价得分，采用区域侵蚀与生长策略提取完整的绝缘子串点云；所述区域侵蚀与生长策略包括：基于绝缘子的固定几何特征，侵蚀噪声点云；沿绝缘子的主方向生长点云，直至达到完整绝缘子的末端。

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