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龙图腾网获悉南通普智芯科技有限公司申请的专利基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121410522B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202512016269.X，技术领域涉及：G01R31/327；该发明授权基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法是由屈粮富;张大伟;薛良设计研发完成，并于2025-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法，包括：磁场发生模块：包含可编程电流源和线圈，产生精确控制的磁场变化；温度控制模块：集成温度传感器和加热冷却装置，实现恒温或温度扫描测试；信号采集模块：高频采样设备采集霍尔器件输出信号；数据处理模块：嵌入式处理器实现自动阈值检测和延迟计算；通用测试接口：可更换探针的测试座适配不同封装器件；数字通信接口：SPI或I2C接口输出测试结果；本发明中，主要结构涵盖了磁场发生模块、温度控制模块、信号采集模块、数据处理模块、通用测试接口、数字通信接口和阈值标定模块等，这些模块相互协作，为精确测试霍尔开关器件的延迟特性提供了坚实的基础。

本发明授权基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.基于霍尔开关器件的延迟测试系统，其特征在于，包括： 磁场发生模块：包含可编程电流源和线圈，产生精确控制的磁场变化； 温度控制模块：集成温度传感器和加热冷却装置，实现恒温或温度扫描测试； 信号采集模块：高频采样设备采集霍尔器件输出信号； 数据处理模块：嵌入式处理器实现自动阈值检测和延迟计算； 通用测试接口：可更换探针的测试座适配不同封装器件； 数字通信接口：SPI或I2C接口输出测试结果； 阈值标定模块：施加缓慢变化的磁场，精确测定霍尔器件的实际开关阈值； 所述信号采集模块中，高频采样设备的采样率不小于100MSPS； 所述阈值标定模块中，磁场的变化率小于1mTs； 所述加热冷却装置为使用220V交流电供热的电阻丝电加热器，所述电阻丝绕设在一个平面上，并设置有小风扇以使测试系统中的温度分布均匀； 所述数据处理模块还包括信号处理电路板和单片机； 所述信号处理电路板用于接收霍尔传感器的测量信号并处理成标准信号传送给所述单片机，以及根据单片机传送的数据产生相应的控制信号； 所述单片机用于通过所述通用测试接口与计算机进行数据传送；所述磁场发生模块中，调节磁场强度的电位器采用数字式电位器，精确地调节场强，在使用前，用高一级精度的场强仪来测量数字电位器不同阻值下的磁场强度，把二者相对应的数据存储在计算机中，作为调节磁场强度的依据； 其中，测试方法包括以下步骤： 信号接收阶段：信号处理电路板一方面接收霍尔传感器的测量信号，并处理成标准信号传送给单片机，另一方面根据单片机传送的数据，产生相应的控制信号，使霍尔传感器在规定的条件下进行工作，单片机通过通用测试接口，向计算机传送测量信号，并接收控制信号； 延迟测试阶段：施加快速变化的磁场，记录理论动作时刻与实际动作时刻的时间差； 温度补偿阶段：在不同温度下重复测试，建立延迟时间－温度特性模型； 结果输出阶段：自动计算并输出延迟时间、开关阈值及其温度系数等参数。

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