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龙图腾网获悉中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121721062B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610221846.0，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法是由吴燕康;刘伟;张兴;吴玉迟;赵宗清;董建军;孙奥;杨品;柯盛鑫;郑金华设计研发完成，并于2026-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法在说明书摘要公布了：本发明涉及惯性约束聚变测量技术领域，具体涉及一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法，包括：获取待标定显微镜在至少一个离散能点下、于物方视场中至少一个选定位置处的系统响应效率实测值；构建待标定显微镜的系统响应效率理论模型，理论模型将系统响应效率表征为随物方视场位置和入射X射线波长变化的函数，且包含至少一个用于表征实际系统与理想模型间偏差的修正参数；将系统响应效率实测值与理论模型在对应相同条件下的计算结果进行比对拟合，以对修正参数进行修正，得到修正后的理论模型；利用修正后的理论模型，确定待标定显微镜在整个物方视场内及连续光谱范围内的系统响应效率。

本发明授权一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法在权利要求书中公布了：1.一种KB显微镜的全视场全光谱响应效率标定方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待标定显微镜在至少一个离散能点下、于物方视场中至少一个选定位置处的系统响应效率实测值； 构建待标定显微镜的系统响应效率理论模型，所述理论模型将系统响应效率表征为随物方视场位置和入射X射线波长变化的函数，且包含至少一个用于表征实际系统与理想模型间偏差的修正参数，包括： 计算待标定显微镜对X射线的集光立体角与其反射率的乘积，根据待标定显微镜中前反射镜的反射率与后反射镜的反射率的乘积计算反射率，根据待标定显微镜反射镜的长度、物距以及掠入射角，计算集光立体角； 根据乘积及待标定显微镜的放大率计算系统响应效率； 将系统响应效率实测值与理论模型在对应相同条件下的计算结果进行比对拟合，以对所述修正参数进行修正，得到修正后的理论模型；所述修正参数包括视场中心掠入射角参数和强度修正因子；其中，所述视场中心掠入射角参数用于调整系统响应效率分布曲线在视场上的位置；所述强度修正因子作为乘积因子，用于调整系统响应效率的强度；将系统响应效率实测值与理论模型计算结果进行比对拟合，包括： 基于单一离散能点下的系统响应效率实测值，生成实测效率随视场位置变化的分布曲线； 使用理论模型计算在相同离散能点及相同视场位置下，系统响应效率的理论值，生成理论计算分布曲线； 以实测分布曲线为基准，通过迭代调整修正参数的数值，以最小化理论计算分布曲线与实测分布曲线之间的预设差异度量值为目标，对修正参数进行拟合； 利用修正后的理论模型，确定待标定显微镜在整个物方视场内及连续光谱范围内的系统响应效率。

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