中国科学院微电子研究所王颀获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种TLC NAND闪存译码方法、装置、系统和介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114283866B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111592435.6,技术领域涉及:G11C16/04;该发明授权一种TLC NAND闪存译码方法、装置、系统和介质是由王颀;于晓磊;李前辉;杨柳;何菁;王先良;张博;霍宗亮;叶甜春设计研发完成,并于2021-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种TLC NAND闪存译码方法、装置、系统和介质在说明书摘要公布了:本申请提供了一种TLCNAND闪存译码方法、装置、系统和介质,该方法包括:采用读电压对TLCNAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果,将读取结果之间进行同或得到初始译码结果,根据初始译码结果得到TLCNAND第一逻辑页的各个分布态分别对应的初始LLR值,根据多次读取结果对初始LLR值进行修正以得到修正LLR值,根据修正LLR值对TLCNAND闪存进行译码。即利用同一物理页中的本逻辑页的数据来修正LLR值,无需利用其他逻辑页的数据来修正LLR值,以完成TLCNAND闪存正确译码,实现上简单,提高了效率和用户使用体验。
本发明授权一种TLC NAND闪存译码方法、装置、系统和介质在权利要求书中公布了:1.一种TLCNAND闪存译码方法,其特征在于,包括: 采用读电压对TLCNAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果;其中,所述TLCNAND闪存中的一个物理页包括下页、中页和上页三个逻辑页;所述TLCNAND闪存包括E、P1-P7八个分布态;当所述第一逻辑页为下页时;所述采用读电压对TLCNAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果,包括:在所述E态和所述P1态之间采用第一读电压进行读操作得到第一读取结果;在所述P4态和所述P5态之间采用第五读电压进行读操作得到第五读取结果; 将所述读取结果之间进行同或得到初始译码结果; 根据所述初始译码结果得到TLCNAND所述第一逻辑页的各个分布态分别对应的初始LLR值; 根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值;所述根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值,包括:获取所述多次读取结果对应的各个分布态的位置信息;根据所述位置信息对第一LLR值进行修正以得到修正LLR值; 根据所述修正LLR值对所述TLCNAND闪存进行译码。
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