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龙图腾网获悉中国科学院物理研究所申请的专利基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121740950B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610210182.8，技术领域涉及：G01N25/20；该发明授权基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置是由李国栋;卢天博;张正;梁文杰设计研发完成，并于2026-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置，包括真空腔体、探针组件、样品组件及数据采集与处理系统，探针组件包括固定的控温探针、第一热电偶及第一控温单元；样品组件包括控温样品底座、样品台、第二热电偶及第二控温单元，通过低温压电位移台驱动，相对于探针作二维扫描运动。第一、第二控温单元相互独立，分别控制探针与样品底座温度，以在接触点形成稳定温度梯度；数据采集与处理系统采集温度梯度下的热电势与温度信号，计算微区Seebeck系数。该装置突破了现有设备仅能在室温工作的局限，实现了真空低温环境下材料微区Seebeck系数的高精度、高分辨率扫描测试，为低温热电材料研究提供了新型技术手段。

本发明授权基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置在权利要求书中公布了：1.一种基于样品扫描的真空变温Seebeck系数测量装置，其特征在于，其包括： 真空腔体20，用于提供测试所需的真空环境； 探针组件，其包括控温探针7、用于测量探针温度的第一热电偶、以及用于控制探针温度的第一控温单元；所述探针组件固定设置于所述真空腔体20内； 样品组件，其包括控温样品底座16、用于安装样品26的样品台、用于测量样品26温度的第二热电偶、以及用于控制样品26温度的第二控温单元；所述样品组件通过低温压电位移台18安装于所述真空腔体20内，所述低温压电位移台18被配置为驱动所述样品组件相对于固定的所述探针组件进行平面二维运动，以实现扫描测试； 其中，所述第一控温单元和第二控温单元相互独立，分别对所述控温探针7和所述控温样品底座16进行控温，以在所述控温探针7与所述样品26的接触点处形成稳定的温度梯度；其中，所述第一控温单元和所述第二控温单元包括制冷模块和加热模块，所述制冷模块通过第一柔性导热体23和第二柔性导热体13分别将斯特林制冷机33的冷头与所述控温探针7及控温样品底座16连接，以实现探针与样品底座的制冷；所述加热模块为分别贴附于所述控温探针7和所述控温样品底座16上的第一加热片2和第二加热片27，以进行补偿加热，所述制冷模块和加热模块相结合对探针与样品底座进行独立的精确控温； 数据采集与处理系统，用于采集在所述温度梯度下样品26产生的热电势信号及温度信号，并计算得到样品26微区的Seebeck系数。

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