买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国标准化研究院申请的专利一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121090491B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511302071.1，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法是由马劭瑾;白雪;白岩;沈心怡;王瑞设计研发完成，并于2025-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法，包括：基于待测试洗碗机的温度时间参数对污染物和被污染餐具进行模拟洗涤，获得已洗涤制品，根据已洗涤污染物的三维荧光光谱和荧光成像系统采集已洗涤餐具的荧光图像，根据已洗涤餐具的物理参数对污染接触曲面进行建模，使用曲面模型对荧光图像中的污染面积进行校正，获得校正面积，基于校正面积提取已洗涤餐具中污染区域的总像素面积，并计算获得洗净性能得分。该方法利用利用荧光技术解决了污染物与餐具表面颜色相近时难识别的问题，从像素级给出了洗净性能得分评估方式，有助于推动洗碗机洗净性能测试的智能化发展。

本发明授权一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于荧光成像的洗碗机洗净性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 基于待测试洗碗机获取洗涤模式的温度时间参数，根据温度时间参数通过静置烘烤对污染物和被污染餐具进行无喷淋模拟洗涤，获得已洗涤制品； 根据已洗涤污染物的三维荧光光谱确定荧光成像的最优波长参数，基于最优波长参数搭建荧光成像系统，使用荧光成像系统采集已洗涤餐具的荧光图像； 根据所述已洗涤餐具的物理参数对污染接触曲面进行建模，使用曲面模型对荧光图像中的污染面积进行校正，获得校正面积；包括： 获取已洗涤餐具的荧光图像，对荧光图像进行HSV颜色空间转换，提取饱和度通道并抑制背景干扰，获得去干扰图像，基于去干扰图像将已洗涤餐具表面像素赋值为零，并根据荧光指数进行二值化，计算二值化后去干扰图像上的连通区域，获得污染区域，所述荧光指数计算公式为： ； 其中为荧光指数，、、分别表示绿、红、蓝颜色通道的图像均值； 根据污染区域提取像素面积以及最小外接矩形的顶点坐标和像素面积，根据已洗涤餐具的内半径和内部高度获取物理参数，使用物理参数对污染接触曲面进行建模，所述曲面模型方程为： ； 其中为内半径，为内部高度，为餐具的污染接触面曲率； 对曲面模型方程通过求导计算切线斜率，使用切线斜率计算污染区域顶点到图像中心O的弧长，所述计算公式为： ； 根据弧长校正顶点坐标，所述校正公式为： ； 其中为第个污染区域中最小外接矩形的横校正坐标，为第个污染区域中最小外接矩形的纵校正坐标； 根据校正坐标计算校正面积，所述校正面积计算公式为： ； 其中为第个污染区域的校正面积，为污染区域的像素面积，由最小外接矩形的长乘以宽计算获得，是第个污染区域最小外接矩形的像素面积，是第个污染区域校正后最小外接矩形的像素面积；包括： 获取已洗涤餐具的荧光图像和物理参数，将物理参数中内半径百分之八十至百分之百区间作为截面半径，提取截面半径对应内壁高度中区域的污染采样点，根据污染采样点计算污染接触面曲率和污染区局部曲率，所述计算公式为： ； 其中为污染接触面曲率，为内半径，为内部高度，为截面半径，为污染采样点，为二次项系数； 根据二次项系数结合反推获得基准高度，其中为基准高度，根据基准高度计算权重因子，所述权重因子公式为： ； 其中为微分曲率初值，为污染采样点i的权重因子； 使用权重因子通过污染接触面曲率公式迭代修正微分曲率，将微分曲率终值作为污染区局部曲率，获取污染区局部曲率绝对值大于四分位值的区域，将污染区局部曲率绝对值作为校正权重通过加权比例校正对校正面积进行二次修正； 基于校正面积提取已洗涤餐具中污染区域的总像素面积，根据总像素面积和洗碗机性能测试标准计算获得洗净性能得分。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国标准化研究院，其通讯地址为：100080 北京市海淀区知春路4号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。