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最新专利技术
  • 晶圆级封装芯片的X射线成像原位光热耦合表征装置及成像方法
    晶圆级封装芯片的X射线成像原位光热耦合表征装置及成像方法_东南大学_202512041152.7
    本发明涉及一种晶圆级封装芯片的X射线成像原位光热耦合表征装置，所述装置包括物理控制组件、加热组件及光学组件，其中，所述物理控制组件包括底座、升降杆、旋转台、样品仓及样品台；所述加热组件包括带有红外加热板的仓盖、红外温度探头及红外加热温控器，...
    2026-05-13
  • 基于中子成像及活化分析的燃料元件检测方法及系统
    基于中子成像及活化分析的燃料元件检测方法及系统_中国核动力研究设计院_202511977590.8
    本发明涉及燃料元件元素含量及均匀性的无损检测技术领域，提供了一种基于中子成像及活化分析的燃料元件检测方法及系统。检测方法包括如下步骤：S1 安装待检测样品，调节成像准直孔对准中子源的中子束流；S2 热中子经成像准直孔准直后透射待检测样品，经...
    2026-05-13
  • 一种光热电多物理场原位X射线衍射测试装置
    一种光热电多物理场原位X射线衍射测试装置_清华大学_202511940439.7
    本发明公开一种光热电多物理场原位X射线衍射测试装置，包括装置主体结构和装置上盖，装置主体结构连接装置上盖形成密闭腔体；装置上盖顶部设置有光源，用于为待测样品提供激发照射；装置主体结构的外侧设置有对接支架，用于与X射线衍射仪进行对接，实现对待...
    2026-05-13
  • 一种用于透射电镜三维重构样品杆的夹持装置
    一种用于透射电镜三维重构样品杆的夹持装置_西北工业大学_202610201292.8
    本发明公开了一种用于透射电镜三维重构样品杆的夹持装置，属于电子显微学技术领域。该装置包括样品杆节、夹持杆和保护框架。样品杆节近端通过安装结构与原位力学样品杆连接，远端通过锥孔与夹持杆的锥杆配合实现同轴锁止；夹持杆采用对开式结构夹持针状样品；...
    2026-05-13
  • 一种页岩岩相矿物成分测定装置
    一种页岩岩相矿物成分测定装置_新疆大学_202511824208.X
    本发明涉及岩矿分析技术领域，具体涉及一种页岩岩相矿物成分测定装置，包括样品基座，样品基座包括第一基座和第二基座，第一基座套接于第二基座外侧壁上；第一基座和第二基座内分别设有相互连通的第一通道和第二通道，第一通道内设有波纹管；第一通道和第二通...
    2026-05-13
  • 一种自动标定小角散射布局参数的方法
    一种自动标定小角散射布局参数的方法_中国工程物理研究院核物理与化学研究所_202512004119.7
    本申请涉及一种自动标定小角散射布局参数的方法，属于核技术应用领域。自动标定小角散射布局参数的方法包括：利用二维散射强度分布的中心对称性，获取标准样品的二维小角散射谱图谱的预估中心坐标；通过优化对称方向一维散射强度分布的偏差值，对预估中心坐标...
    2026-05-13
  • 一种X射线衍射仪法测定低合金淬火钢原奥氏体晶粒度大小的方法
    一种X射线衍射仪法测定低合金淬火钢原奥氏体晶粒度大小的方法_鞍钢股份有限公司_202610048122.0
    本发明公开一种X射线衍射仪法测定低合金淬火钢原奥氏体晶粒度大小的方法，属于金属材料检测技术领域。本发明提供的方法，通过建立马氏体相变产物与原始晶粒尺寸的定量关系模型实现了无损检测，避免了传统金相法对样品的化学侵蚀和机械破坏，解决传统检测手段...
    2026-05-13
  • 一种纳米颗粒尺寸分布的分析方法及相关产品
    一种纳米颗粒尺寸分布的分析方法及相关产品_上海捷氢科技股份有限公司_202610053407.3
    本申请公开了一种纳米颗粒尺寸分布的分析方法及相关产品，可应用于纳米颗粒检测技术领域，该方法包括：获取待测纳米颗粒样本所对应的XRD图谱；基于所述XRD图谱确定目标峰区间；所述目标峰区间为所述XRD图谱中的至少一条目标衍射峰所对应的横向位置区...
    2026-05-13
  • 一种深海多金属沉积物中矿物成分分析方法
    一种深海多金属沉积物中矿物成分分析方法_广州海洋地质调查局三亚南海地质研究所_202610128002.1
    本发明涉及地质分析与材料表征技术领域，公开了一种深海多金属沉积物中矿物成分分析方法。本发明提供了背装法制样在深海多金属沉积物中矿物成分分析中的应用，有效抑制了定向排列引发的择优取向效应，保障了衍射强度信息的真实性；成分分析方法采用高功率X射...
    2026-05-13
  • 一种用于未知厚度含氚样品分析的BIXS方法
    一种用于未知厚度含氚样品分析的BIXS方法_四川大学_202511774301.4
    本发明公开了一种用于未知厚度含氚样品分析的BIXS方法，方法包括：将未知实际氚吸收深度t的含氚样品自上到下划分成M层；获取M层中每一层单独含氚时的氚β衰变X射线能谱并构成能谱矩阵；由BIXS实验获取含氚样品前产生的总的氚β衰变X射线能谱；由...
    2026-05-13
  • 用于扫描电子显微镜成像的DNA自组装样品预处理方法
    用于扫描电子显微镜成像的DNA自组装样品预处理方法_北京大学_202610004223.8
    本发明涉及生物技术领域，具体涉及用于扫描电子显微镜成像的DNA自组装样品预处理方法。本发明通过采用镍离子溶液处理DNA自组装结构，有效抑制其在固态衬底上的脱水收缩形变，并且，镍离子与DNA磷酸骨架反应生成具备半导体特性的磷酸镍类化合物，显著...
    2026-05-13
  • 一种具备清洁和测试功能的集成纳米探针
    一种具备清洁和测试功能的集成纳米探针_重庆赛宝工业技术研究院有限公司_202610026913.3
    本发明涉及半导体晶圆测试技术领域，具体公开了一种具备清洁和测试功能的集成纳米探针，包括以下组成：固定圆盘：用于半导体晶圆的固定放置；测试探针和清洁探针：测试探针和清洁探针分别用于半导体晶圆测试和清洁，放置在固定圆盘上的探针驱动模块，所述探针...
    2026-05-13
  • 电化学载样台
    电化学载样台_中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所_202512006915.4
    本发明属于电化学原位表征技术领域，具体涉及一种用于近常压光电子能谱分析的电化学载样台。该载样台包括底座、固定于其上的密封壳体、封装于壳体内的电极组件以及覆盖于电极组件关键区域的封装层。封装层允许激发射线穿透并允许所产生的光电子穿过，同时阻隔...
    2026-05-13
  • 长时间采集的暗校正
    长时间采集的暗校正_FEI公司_202511295868.3
    一种带电粒子光束(CPB)成像装置，在CPB被遮断时间歇性地采集暗帧，并使用这些间歇采集的暗帧更新暗参考。该暗参考用于补偿采集到的样品帧中的加性噪声分量，尤其是用于补偿在长时间、多次图像采集过程中逐渐增加的加性噪声。
    2026-05-13
  • 基于多阶融合高维光谱指数的矿区铜污染监测方法和系统
    基于多阶融合高维光谱指数的矿区铜污染监测方法和系统_中国科学院新疆生态与地理研究所_202610037534.4
    本发明涉及矿区铜污染监测技术领域，具体涉及基于多阶融合高维光谱指数的矿区铜污染监测方法和系统。本方法包括以下步骤：基于土壤样品提取样方对应像元光谱数据和铜元素含量；对像元光谱进行多阶分数阶导数变换，生成多组分数阶导数光谱；根据所述分数阶导数...
    2026-05-13
  • 一种基于光谱分区的双源激发EDXRF分析仪器
    一种基于光谱分区的双源激发EDXRF分析仪器_南京航空航天大学_202610065554.2
    本发明公开了一种基于光谱分区的双源激发EDXRF分析仪器，属于分析检测仪器技术领域，其包括密封壳体构成的真空测量腔室，配备真空系统、样品载台、探测单元、双激发源及控制处理模块，第一激发源为铑靶X射线管，适配轻元素激发，无滤光片且配超薄窗口，...
    2026-05-13
  • 开孔度的测定方法、正极活性材料、正极极片以及电化学装置
    开孔度的测定方法、正极活性材料、正极极片以及电化学装置_厦门厦钨新能源材料股份有限公司_202511998608.2
    本申请提供开孔度的测定方法、正极活性材料、正极极片以及电化学装置。开孔度的测定方法包括：测定正极活性材料的总比表面积BET、表观密度ρ及等效球表面积平均粒径D；测定正极活性材料的外比表面积ESS；以及基于ESS计算正极活性材料的开孔度OPA...
    2026-05-13
  • 一种基于MEMS悬臂梁的原位SEM热重系统及其应用
    一种基于MEMS悬臂梁的原位SEM热重系统及其应用_中国科学院合肥物质科学研究院_202610104122.8
    本发明涉及原位电镜技术领域，尤其是一种基于MEMS悬臂梁的原位SEM热重系统及其使用方法。本发明提出的系统包括SEM扫描电镜、MEMS悬臂梁、称重模块、温控模块和承载测控软件的上位机；MEMS悬臂梁上集成有载样区、微加热器、驱动器和谐振检测...
    2026-05-13
  • 一种放射性元素对矿物晶体结构影响的研究方法
    一种放射性元素对矿物晶体结构影响的研究方法_核工业北京化工冶金研究院_202610161509.7
    本发明属于矿物学、放射化学与材料微结构分析的交叉技术领域，具体涉及一种放射性元素对矿物晶体结构影响的研究方法。所述方法包括：样品制备与目标区域筛选、载体矿物形貌与成分表征、整体结构分析、微区精确定位与透射电镜样品制备、原子尺度微结构损伤的直...
    2026-05-13
  • 基于超导纳米线单光子探测器的阴极荧光探测系统及方法
    基于超导纳米线单光子探测器的阴极荧光探测系统及方法_清华大学_202511753850.3
    本申请提供一种基于超导纳米线单光子探测器的阴极荧光探测系统及方法，涉及阴极荧光探测技术领域，该系统包括：阴极荧光光谱处理单元，用于接收电子显微镜产生的阴极荧光CL信号，并对CL信号进行预处理后，将处理后的信号传输至超导纳米线单光子探测器中进...
    2026-05-13
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