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最新专利技术
  • 塑料齿轮缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
    塑料齿轮缺陷检测方法、装置、设备及存储介质_东莞市星火齿轮有限公司_202511738493.3
    本申请涉及图像检测技术领域，本实施例提供一种塑料齿轮缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括基于预设的图像检测方法检测待检塑料齿轮是否存在潜在黑点缺陷；若存在潜在黑点缺陷，对各所述潜在黑点缺陷进行连通域分析，生成至少一个二次待检区域；...
    2026-02-22
  • 一种基于引水隧洞结构缝检测方法及系统
    一种基于引水隧洞结构缝检测方法及系统_中建三局集团西北有限公司_202511739814.1
    本发明涉及隧洞结构检测技术领域，公开了一种基于引水隧洞结构缝检测方法及系统。该方法采集当前结构缝的空间位置与几何特征等现场检测数据；基于当前特征在历史存储库中查找关联记录，并对历史环境参数进行类别划分形成多个历史环境分组；从各分组中导出基准...
    2026-02-22
  • 基于卷积神经网络的鸡蛋蛋壳裂纹检测方法及系统
    基于卷积神经网络的鸡蛋蛋壳裂纹检测方法及系统_四川省农业机械科学研究院_202511755871.9
    本发明涉及人工智能技术领域，公开了一种基于卷积神经网络的鸡蛋蛋壳裂纹检测方法及系统。该方法包括：通过多光谱透射成像与三维结构光测量同步获取鸡蛋多模态数据；将数据在圆柱坐标系下进行刚性配准与展开，生成空间对齐的多通道融合特征图；输入至编码器‑...
    2026-02-22
  • 一种基于图像处理的复合墙裂缝识别方法及系统
    一种基于图像处理的复合墙裂缝识别方法及系统_长安大学_202511758395.6
    本发明公开了一种基于图像处理的复合墙裂缝识别方法及系统，用于装配式复合墙裂缝的识别，属于结构健康监测与图像处理技术领域。通过对待测复合墙表面进行散斑制备，搭建图像采集处理系统，在低周往复荷载试验过程中，同步采集墙体变形前后的数字图像；利用图...
    2026-02-22
  • 精密钣金零件视觉检测系统
    精密钣金零件视觉检测系统_宝鸡市忠诚精密钣金有限公司_202511758784.9
    本发明公开了一种精密钣金零件视觉检测系统，涉及精密钣金检测技术领域；本系统通过搭建包含低温适配工业相机、高光谱成像模块及预存多型号特征指纹库的硬件架构，配合温度差值动态调整的图像补偿、材质光谱与形状拓扑双指纹匹配的型号自动识别、光谱角匹配结...
    2026-02-22
  • 基于数字散斑的纤维缠绕气瓶缺陷检测方法及系统
    基于数字散斑的纤维缠绕气瓶缺陷检测方法及系统_广东省特种设备检测研究院(广东省特种设备事故调查中心)_202511777631.9
    本发明公开了一种基于数字散斑的纤维缠绕气瓶缺陷检测方法及系统，在气瓶外表面制作高对比度的散斑图案；对气瓶施加可控载荷，并采集施加载荷前后的气瓶表面图像序列；基于气瓶表面图像序列，通过数字散斑相关方法计算得到气瓶表面全场位移场数据；对气瓶表面...
    2026-02-22
  • 一种拉丝模具缺陷检测设备及方法
    一种拉丝模具缺陷检测设备及方法_西安交通大学_202511790678.9
    本发明属于光学成像技术领域，公开了一种拉丝模具缺陷检测设备及方法，包括光源、置物台、上位机和图像采集单元；光源安装在置物台的底部，置物台用于放置待测工件，光源的照射范围覆盖待测工件的内壁；图像采集单元安装在置物台上方，图像采集单元的观察轴与...
    2026-02-22
  • 一种基于地毯加工的表面瑕疵检测设备
    一种基于地毯加工的表面瑕疵检测设备_山东华迈地毯有限公司_202511509157.1
    本发明提供一种基于地毯加工的表面瑕疵检测设备，涉及地毯瑕疵检测技术领域，包括固定台座，所述固定台座上焊接有支撑座，所述支撑座的内壁之间固定有固定箱，所述支撑座的边侧固定安装有连接箱，本发明，在使用时，启动电机带动螺纹柱旋转，螺纹柱的旋转使挤...
    2026-02-22
  • 一种无图案晶圆表面缺陷的微分干涉检测装置及检测方法
    一种无图案晶圆表面缺陷的微分干涉检测装置及检测方法_无锡维度机器视觉产业技术研究院有限公司_202311729633.1
    本发明公开了一种无图案晶圆表面缺陷的微分干涉检测装置及检测方法，是由激光光源透镜耦合进光纤，依次经过准直器、半波片和扩束器后，经分光棱镜、反射镜反射进入四分之一波片，由偏振分光棱镜分成P光和S光，分别经过两个直角棱镜反射后共路传播，由聚焦镜...
    2026-02-22
  • 一种快速定位晶圆缺陷的方法
    一种快速定位晶圆缺陷的方法_南京泛铨电子科技有限公司_202511226923.3
    本发明专利公开了一种快速定位晶圆缺陷的方法，涉及半导体技术领域，包括如下步骤：S1：AOI系统检测晶圆缺陷坐标，并进行记录，形成AOI坐标；S2：晶圆传递至激光标定机上，并对缺陷进行激光标记标定；S3：晶圆传递至OM/SEM上，OM/SEM...
    2026-02-22
  • 一种自行车货架毛坯焊道检验设备
    一种自行车货架毛坯焊道检验设备_杭州新兴车料有限公司_202511229765.7
    本发明提供了一种自行车货架毛坯焊道检验设备，其包括：支撑组件、翻转组件、导向组件和压紧组件，支撑组件由轨道和底板组成，翻转组件包括立板、摆杆、翻板和支撑板，立板顶端与摆杆转动连接，导向组件由限位板、搭接板和引导机构组成，压紧组件转动连接在支...
    2026-02-22
  • 基于机器视觉的铆压后质量检测方法及铆压设备
    基于机器视觉的铆压后质量检测方法及铆压设备_睿恩特智能装备(东莞)有限公司_202511327791.3
    本申请公开了一种基于机器视觉的铆压后质量检测方法及铆压设备，其通过将光度立体视觉技术与单点激光测高相结合，通过采集多光照图像序列计算表面法线与反照率，并利用单点激光位移器获取的参考高度值对三维形貌重构过程进行校准，以生成高精度的校准后高度图...
    2026-02-22
  • 一种非接触式高精度管网破损检测系统
    一种非接触式高精度管网破损检测系统_广东弘众源建筑工程有限公司_202511332971.0
    本申请涉及一种非接触式高精度管网破损检测系统，涉及地下管网检测的技术领域，其包括双模态传感单元、数据处理单元、自适应光学单元、防护壳体和电源管理模块。本申请通过红外热成像模块与激光扫描模块的协同，可以实现毫米级精度，通过设置滤光切换机构，可...
    2026-02-22
  • 一种基于高光谱-扫描电镜联用的架空地线腐蚀状态检测方法及系统
    一种基于高光谱-扫描电镜联用的架空地线腐蚀状态检测方法及系统_广西电网有限责任公司电力科学研究院_202511364886.2
    本发明公开了一种基于高光谱‑扫描电镜联用的架空地线腐蚀状态检测方法及系统，方法包括制备具有不同腐蚀状态的架空地线试样；通过扫描电镜对所述架空地线试样进行微观形貌分析，标定架空地线在不同腐蚀阶段的微观形貌特征，并划分对应的腐蚀等级；采集所述架...
    2026-02-22
  • 基于机器视觉的换流阀缺陷检测装置
    基于机器视觉的换流阀缺陷检测装置_青岛城市轨道交通科技有限公司_202511410350.X
    本申请适用于换流阀技术领域，提供了一种基于机器视觉的换流阀缺陷检测装置。该装置用于对设置在机房中的阀塔进行检测，包括轨道支撑支架、巡检机器人轨道、承托组件、导向组件和检测装置；轨道支撑支架固定在机房墙体内壁上，巡检机器人轨道安装在轨道支撑支...
    2026-02-22
  • 基于显微图谱的半导体缺陷检测方法及设备
    基于显微图谱的半导体缺陷检测方法及设备_上海星庆光学仪器有限公司_202511460047.0
    本发明提供了一种基于显微图谱的半导体缺陷检测方法及设备，包括：根据被测半导体材料类型选择红外多谱段显微成像的谱段，采用电动载物台对样品进行第一预定视场及第一预定分辨率扫描成像，并将扫描图像拼接为完整显微图像；对完整显微图像进行分析，定位疑似...
    2026-02-22
  • 一种用于芯片的自动化检测设备及其检测方法
    一种用于芯片的自动化检测设备及其检测方法_深圳市嘉立方科技有限公司_202511470702.0
    本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种用于芯片的自动化检测设备及其检测方法，包括芯片检测设备本体，所述芯片检测设备本体包括检测台和检测设备，所述芯片检测设备本体的检测台上转动连接有转动台，所述转动台顶部的外壁固定连接有放置座，所述放置座的内...
    2026-02-22
  • 一种内存条视觉传感器测试方法及装置
    一种内存条视觉传感器测试方法及装置_深圳市芯神话科技有限公司_202511524065.0
    本申请涉及一种内存条视觉传感器测试方法及装置，测试装置包括：支撑座，所述支撑座上设有两个间隔设置的导轨；显示控制机构，位于所述支撑座的上方，所述显示控制机构的下方设有视觉检测机构，所述显示控制机构与所述视觉检测机构电性连接；翻面夹持机构包括...
    2026-02-22
  • 一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法
    一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法_武汉大学_202511560269.X
    本申请属于半导体制造过程检测领域，具体公开了一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法，该系统包括表面缺陷成像子系统、亚表面缺陷成像子系统和数据处理子系统，其中表面缺陷成像子系统用于获取表征待测芯片表面缺陷的反射光图像，并将反射光图像传输...
    2026-02-22
  • 一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法
    一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法_山东中晶芯源半导体科技有限公司_202511576731.5
    本申请提供一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法，方法包括获取4H‑SiC晶圆，并对4H‑SiC晶圆进行预处理，得到4H‑SiC目标晶片；利用光学表面缺陷检测仪获取4H‑SiC目标晶片表面的信号成像；光学表面缺陷检测仪包括以波长为400‑...
    2026-02-22
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